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基于JTAG技术的嵌入式交叉调试软件第26卷第10期Vol.26No.10计算机工程与设计ComputerEngineeringandDesign2005年10月Oct.2005基于JTAG技术的嵌入式交叉调试软件阳富民,柯滔,涂刚(华中科技大学计算机学院,湖北武汉430074)摘要:介绍了JTAG交叉调试技术及Xscale芯片的增强调试功能,并在此基础上给出一种嵌入式交叉调试软件系统的设计及实现。主机端环境为LINUX操作系统,并利用GDB调试软件,目标系统采用Xscale芯片。该系统的特点是纯软件实现,廉价方便。关键词:JTAG;嵌入式系统;交叉调试文章编号:1000-7024(2005)10-2817-03中图法分类号:TP319文献标识码:AEmbeddedcrossdebuggingsoftwarebasedonJTAGYANGFu-min,KETao,TUGang(SchoolofComputerScience,HuazhongUniversityofScienceandTechnology,Wuhan430074,China)Abstract:ThecrossdebuggingtechnologywasintroducedwithJTAGandthedebuggingfunctionsofXscalewasemhanced.Thedesignandimplementationtechnologyofanembeddedcrossdebuggingsoftwaresystemwasprovidedin……