标签: 激励信号

半导体器件检定需要灵活的激励信号应用文章半导体器件检定测试需要灵活的激励信号半导体遍布于各个领域。它们是当前通信系统和计算系什么是半导体器件检定测试?统的基本构件，它们是消费电子产品和航空技术的基在一系列详尽的布局和建模流程后，新型半导体器件的础，它们支持工业系统、环境控制等等。在本应用指南“第一个硅”原型铸造完毕，但其是否能够实现预期的性中，我们将考察称为信号源的测量仪器怎样帮助您精确能呢？累积内部容限和不能预见的电路单元之间的交互地测试某些基本半导体设备的性能特点。本文适用于开仍会影响设备的预计性能。因此，必须对设备进行测试，发新型半导体设备的设计人员及在最终产品中应用这些确定其是否满足基本设计规范。这一步称为设计检验或半导体设备的工程师。检定，它验证设计在功能上能够正常运行。半导体器件检定测试需要灵活的激励信号应用文章第二个、也是更加完善的一套检定测试是确定设备的来了挑战。最重要的是，由于复杂性和速度不断增长，“发展空间”和工作余量。本应用指南将主要介绍检定，工程师必须找到能够全面满足被测设备需求、而又经济即测量设备的实际性能极限。一旦知道这些极限达到令高效的测量解决方案。人满意的水平，那么可以指定制造容限，确定成品率目本文其余部分将专门介绍信号源在半导体测量应用中的标，印刷产品资料。……

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