标签: 調試

ARMJTAG調試原理OPEN-JTAGARMJTAG调试原理OPEN-JTAG开发小组1前言这篇文章主要介绍ARMJTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP(TESTACCESSPORT)和BOUNDARY-SCANARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会，希望对想了解ARMJTAG调试的网友们有所帮助。我个人对ARMJTAG的理解还不是很透彻，在文章中，难免会有偏失和不准确的地方，希望精通JTAG调试原理的大侠们不要拍砖，有什么问题提出来，我一定尽力纠正。同时也欢迎对ARMJTAG调试感兴趣的朋友们一起交流学习。2IEEEStandard1149.1-TestAccessPortandBoundary-ScanArchitecture既然是介绍JTAG调试，还是让我们从IEEE的JTAG调试标准开始吧。JTAG是JOINTTESTACTIONGROUP的简称。IEEE1149.1标准就是由JTAG这个组织最初提出的，最终由IEEE批准并且标准化的。所以，这个IEEE1149.1这个标准一般也俗称JTAG调试标准。接下来的这一部分，主要简单的介绍了TAP(TESTACCESSPORT)和BOUNDARY-SCANARCHITECTURE的基本构架。虽然不是很全面，但对了解JTAG的基本原理来说，应该是差不离了。如果希望更全面深入的了解JTAG的工作原理，可以参考IEEE1149.1标准。2-1边界扫描在JTAG调试当中，边界扫描（Boundary-Scan）是……

低噪聲放大器的設計製作與調試,低噪聲放大器的設計製作與調試……