原创 IBM拟在芯片中加入气孔,提高绝缘性能

2007-5-24 12:09 3895 5 5 分类: MCU/ 嵌入式

     芯片节距的缩小,对绝缘材料的要求越来越高,漏电流成为芯片技术发展的一大障碍。为此,IBM提出了用气隙代替绝缘材料的新思想。


       IBM的方法是,在硅片上涂上一层特殊的聚合材料,这种材料通过烘焙,能够自然形成数万亿个大小均匀尺寸仅为20纳米的细孔,提高了元件及导线间的绝缘性能。仅此一项措施,就能让微芯片的运行速度再次提高三分之一,并可以节能15%。 


e7802d93-1629-4ea2-8f7a-f64a457d1c43.jpg


铜导线间加入气孔,取代传统的Low-k绝缘材料


       “这是我在最近10年所见到的最大一次突破。”IBM技术与知识产权部高级副总裁约翰·凯利(John Kelly)说。“最理想的绝缘体就是真空……我们已经找到了达到这一目的的路径。”


       凯利称,IBM原打算2009年在其芯片生产中采用该工艺,但现在已根据已有的设计制作出了原型,因此也有可能提前投入使用。


PS:如果将IBM的气孔绝缘技术与普渡大学的微通道技术结合起来,既可提高芯片的绝缘性能,又能加强散热效果。双管齐下,必将事半功倍。


[相关链接]


      气孔密封是采用超低k介电材料的关键吗?,半导体国际,2005-12-28

PARTNER CONTENT

文章评论0条评论)

登录后参与讨论
我要评论
0
5
关闭 站长推荐上一条 /3 下一条