原创 EEPROM长效读写

常用的EEPROM如24LC04等的使用寿命大概是10万次，这在一些频繁修改存储数据的场合往往不够。一个很自然的想法是以空间换时间，用分块的方式轮流写入。设想在00H单元记录当前数据区首地址，每次根据00H单元内容查找当前数据区，写入后立刻回读比较数据是否相同，若不同则说明存储单元损坏，那么换下一存储区，这样可延长的寿命倍数就是数据块的块数，缺点就是每次需要回读判断比较慢。<?xml:namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" />

一时想不到其他思路，看看其他人的做法。晓奇的方法是：在一个储存数据区的前面加一个特殊的字节例如：'55',用他表示这个区正在使用，每次写入更换一个区，同时对上一次为'55'的标志字节写入'aa',如果每次写入的数据有5字节则以6字节位一组，整个eeprom内轮流循环写。读数据的时候首先按照n*6做地址搜索'55'，要死一起死。这样就无需判断存储单元好坏，轮流写入，不过一个存储单元坏整个EEPROM就报废了。另外每次都要查找当前地址，标志字节修改次数是其他数据的两倍。

如果改进一下在00H单元记录当前数据区首地址，那么就没有这两个缺点了，不过每次都要修改当前数据区首地址，这样00H单元用不了多久的，看来晓奇是为了避免这样的结果才搞的这么麻烦。如果不用每次都换数据区，那么00H单元就没有寿命问题了。综合考虑一下：00H单元记录当前数据区首地址，每次根据该地址读写数据；数据区的首位作为计数器，初始时置为N，每写一次就减一，计到零就重置为N，并修改00H单元，跳到下一数据区，N的取值与00H单元的写次数直接相关，应根据数据区的块数取值；这样一来避免了晓奇方法的两个缺点，也不用每次判断存储单元好坏，当然一个存储单元坏整个EEPROM就报废的木桶效应无法避免。跟第一个方法相比各有利弊，大家看情况取舍吧。