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雁塔菜农
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原创 开漏双向IO在模拟串行通信和IO自检方面的优势

2008-1-16 22:22 4170 5 5 分类: MCU/ 嵌入式

原文发表于: http://bbs.21ic.com/club/bbs/list.asp?boardid=49&t=2832973


hotpower 发表于 2008-1-16 22:15 ST MCU ←返回版面 按此察看该网友的资料 按此把文章加入收藏夹 按此编辑本帖


10楼： 开漏双向IO在模拟串行通信和IO自检方面的优势


8031的准双向IO的成功,也支持了它能在业界存活的时间更长,当然AT89C51
是后继者中最大的功臣~~~

准双向IO实际就是带上拉功能的开漏输出且能读写的双向IO,它在速度允许时,

几乎可以模拟任何串行接口,特别是将SPI接口的MISO和MOSI短接变为单线双向

接口SIO.

虽然它的拉电流很小,但对保护IO不受损坏起到了关键的作用.

如果大家都是这种准双向的IO接口,那么大家线与又有谁害怕IO被毁呢???

所以这种准双向IO的优点就可以实现IO的自检,在配合下面的"电路"即可实现

IO不怕接VCC,不怕接地,不怕混线,不怕断线(过孔未沉铜)~~~

即可在一片IO上用铁棍"弹钢琴"~~~

"电路"

V---自恢复保险---+----LDO----MCU---IO <---搞破坏(VCC,GND,...)
                 |                 
            瞬态拟制器
                 |
                GND


STC单片机IO管脚毁坏动态自检程序

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