原创 双向IO转准双向(开漏输出)IO的软件控制

问题：

2138的io如果不是开漏输出是不是不能模拟IIC

在很多MCU/ARM/DSP中，IO都是真正的双向IO.

一般由方向(输出输入模式)和读写等控制寄存器组成

如LPC2138的IODIR,IOSET,IOCLR,IOPIN等。

而在应用中有时需要IO去模拟1-Wire,I2C,SPI等总线时序，

故其数据线是需要双向IO的，这样双向IO在读时序的写'1'过程时

是不可以在输出模式下输出高电平的，因为这样将会与接口设备发生“线与”

虽然可以用二极管来阻止“线与”的发生，但破坏了双向的设计要求。

如出现“操作不慎会输出大电流？”

wswh2o 发表于 2008-12-5 16:25 侃单片机 ←返回版面

楼主： 2138的io如果不是开漏输出是不是不能模拟IIC

操做不慎会输出大电流？

故应该在总线上外接上拉电阻，在输出‘1’时将其变为输入模式，利用外部

上拉电阻来输出‘1’。此时的IO就相当于“开漏”IO.

这样控制软件的编写也非常简单：

1.输出寄存器永远写‘0’

2.读IO不变，还是输入模式。

3.写IO时，写‘0’为输出模式，写‘1’为输入模式。

这样原本应该控制IOSET,IOCLR的变为了控制IODIR。

所以：

hotpower 发表于 2008-12-5 18:03 侃单片机 ←返回版面

3楼： IO设置为输入模式就是“开漏输出”

输出0---设置为输出模式，拉低IO 输出1---设置为输入模式，外部上拉为1

这种双向IO转准双向IO的方法在一些键扫描的应用尤为重要，

因为这些IO一般都串联电阻防止IO线与，可能是需要双向，故不能

加二极管来防止线与的发生。

当键扫描有效时，假设扫描行‘0’，非扫描行‘1’，（读IO）输入中断上拉‘1’

那么有键压下时，扫描行‘0’，非扫描行‘1’的“抽头”处实际是

2个串联电阻的分压处，

故读IO得到是大约1/2VCC，这只是理论上的，考虑动态电阻，有些芯片可能

会测试到键压下，但可能是时好时坏，很不稳定，当多键压下是就测不到键压下了。

我遇到过别人设计的这样的电路，考虑时单向扫描，将其电阻换为二极管才算

解决。

虽然这个问题不是问题，但也要特别注意。