作者: 时间:2009-01-12 来源: | |
在使用电子元器件时,首先需要了解其参数,这就要求能够对元器件的参数进行精确测量。采用传统的仪表进行测量时,首先要从电路板上焊开器件,再根据元件的类型,手动选择量程档位进行测量,这样不仅麻烦而且破坏了电路板的美观。经过理论分析和实验研究,采用正交采样算法,并由单片机控制实现在线测量、智能识别、量程自动转换等多种功能,可大大提高测量仪的测量速度和精度,扩大测量范围。因此这种RLC测量仪既可改善系统测量的性能,又保持了印刷电路的美观,较传统的测量仪还具有高度的智能化和功能的集成化,在未来的应用中将具有广阔的前景。 此测量仪硬件设计思路如图1所示。 这样通过程序控制单片机与74LS273相接端口的高低电位,就可以控制模拟开关选择不同的通道,从而实现自动的量程档位转换和增益控制。 2 软件程序设计 本测量仪的测量原理是以正交采样为基础。首先选用频率恒定的正弦信号作为标准测量信号,然后用待测元件和基准电阻串联对测量信号进行分压,最后由单片机分别对待测元件和基准电阻分压后所得的信号进行正交采样处理。 由于流过电容或电感的电流与其两端的电压存在90
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用户188034 2009-9-13 22:42