引言
1 K, K: F) F- l7 n! g6 H讨论芯片2 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现
2.1 不同测试目标的考虑
- G7 U! p) C. r# @$ x1 x$ Q3 C依照器件开发和制造阶段的不同，采用的工艺技术的不同，测试项目种类的不同以及待测器件的不同，测试技术可以分为很多种类。
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2.1 不同测试目标的考虑
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