原创 NI推出首款基于PXI的源测量单元和业界最高密度的PXI开关模块

2008-5-25 10:01 1621 5 5 分类: 测试测量
NI推出首款基于PXI的源测量单元和业界最高密度的PXI开关模块
全新高精度直流产品把PXI平台功能延伸至半导体测试领域

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