一种观点为“负载电容”之说：
晶振的标称值在测试时有一个“负载电容”的条件，在工作时满足这个条件，振荡频率才与标称值一致。一般来讲，有低负载电容(串联谐振晶体)，常用的有JA18A、JA18E、JA24A、B0002CE;高负载电容(并联谐振晶体)，常用的有JA18B、KSS6CT、B0031CE。在电路上的特征为：晶振串一只电容跨接在IC两只脚上的，则为串联谐振型;一只脚接IC，一只脚接地的，则为并联型。如确实没有原型号，需要代用的可采取串联谐振型电路上的电容再并一个电容，并联谐振电路上串一只电容的措施。例如：4.433MHz晶振,并一只3300PF电容或串一只70P的微调电容。
另一种说法是“损耗值”与“激励电平”之说.
其实，上述原因都可以作为选择晶振的条件作为考虑。
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pentral0311_880012608 2013-7-3 09:59
用户1431660 2012-10-31 18:27
用户1545371 2012-9-7 08:28
用户1510143 2012-9-6 08:58
tamkay_819533976 2012-9-5 18:50
这个可不可以说是数据完整性出了问题？或者数据处理的“同步性”出了问题？
这个事例很有典型性！
类似的“问题”往往会令人束手无策、困惑不解好几天。我觉得，只有举一反三、触类旁通，上升到用规范性的方法来工作，才能更好的避免“问题”重演。
比如，（1）凡是数据会被分割的成更小的单元进行处理的，都必须考虑如果只有部分的单元被处理、整体数据没有被完整处理的时候是否会有不良影响。如果你不能确定是否有不良影响，那么就必须保证数据是“不可分割”的。
（2）对于可以被分割的函数或者模块等执行流，也要进行相同的考虑。
用户1558680 2012-9-3 19:33
用户1510143 2012-8-29 16:28
用户1078441 2012-8-29 15:07
用户1470025 2012-8-27 14:21
用户1510143 2012-8-25 10:25