原创 双向可控硅的测量

2010-1-2 19:38 1606 4 4 分类: 模拟

1.用指针式万用表电阻档测量可控硅阳极和阴极之间是否短路,一般情况下双向可控硅阳极和阴极之间的电阻在数十千欧以上,如用万用表测量时已短路或电阻已小于10千欧以下,可判断可控硅已击穿损坏。
    2.用万用表分别测量双向可控硅触发极与阴极之间的电阻值,一般再几欧至百十欧以内的正常,触发极与阳极之间的电阻值,一般再十千欧以上为正常。


本文来源于 容源电子网|www.dziuu.com 原文链接:http://www.dziuu.com/dz/21/20091212210432.shtml


 

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