原创 双波长干涉测量法

图片来自：论文《采用双波长相移干涉测量光学非均匀性的研究》，郑箫逸等

双波长干涉测量法，同时被波长为λ1和λ2的两个单色波照射。每种波都会产生自己的干涉图。这两种干涉图案产生莫尔条纹，其特征在于合成波长（或者叫等效波长）λs。如果路径差变化较大，从而产生具有窄条纹的干涉图案，则只有由于合成波长引起的图案是可见的。在假设两个波长非常接近并且波的振幅相等的情况下，强度分布可以表示如下：

其中a和b是常数，相位差δ1和δ2由下式给出

Δ是光程差，并且假设对于所考虑的两个波长是恒定的。强度分布中的第二项具有调制项；余弦函数的自变量可以表示为

因此，合成波长λs由下式给出

双波长干涉测量法已被用于高精度的大距离测量。相移可以被纳入双波长干涉测量。还有其他几种技术，如双波长正弦相位调制干涉测量法、双波长锁相干涉测量法和双波长外差干涉测量法。