原创 485通讯调试总结

2011-7-11 15:39 2709 7 7 分类: MCU/ 嵌入式
调试485时的经验总结:

    1.发现不能通讯,先去除光耦,用单电源直接控制,能通讯,最终发现布板时用的protel标准库的光耦元件,3,4脚,和实际tlp521-1相反,导致不能通讯。

    2.更改上述错误,能通讯,但是不能上9600波特率,减小光耦上拉电阻为3.3K,可以9600波特率。分析,器件的速度取决于对内部杂散电容充电速度,减小上拉电阻,缩小了杂散电容充电时间,提高了通讯速度。

    3.发现发送时,每次最后一个字节,不能完成发送。
分析最后一个字节在单片机串行位发送过程中,发送使能已经完了成关闭,最后一个字节发送完成以后,延迟若干ms,关闭发送使能,问题解决。

    4. A,B输出端串接电阻,焊接上以后,不能发送。
仔细检查发现,A,B输出端串接电阻焊接成了200欧姆,实际为20欧姆。

    5.主机有的时候,发送数据以后,立即接收到一个0xff字节,此时从机尚未发送数据,分析认为,这个数据属于反射干扰形成的,仔细检查,发现120欧美中断匹配电阻未焊接。
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