用户71098的文章-第3页-面包板社区

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用户71098 2008-7-4 16:54: 易于操作的快速自动测试系统带有USB接口(二); 易于操作的快速自动测试系统带有USB接口(二) 作者：Andy Purcell 在测试产品应用中，使用480Mbps的USB数据传输速率可缩短测试时间。在产品 ...; 2877 6 0 6

用户71098 2008-7-4 16:51: 易于操作的快速自动测试系统带有USB接口(一); 易于操作的快速自动测试系统带有USB接口(一) 作者：Andy Purcell 在测试产品应用中，使用480Mbps的USB数据传输速率可缩短测试时间。在产品 ...; 3134 8 0 8

用户71098 2008-7-4 16:48: 交叉触发两个示波器以产生扫描延迟的显示; 交叉触发两个示波器以产生扫描延迟的显示作者：Hubert Houtman 许多示波器都缺少延迟扫描功能，再加上一般用户只是偶尔需要这个功能 ...; 3251 6 0 6

用户71098 2008-7-4 16:38: 数字荧光示波器结构融合两种优势; 数字荧光示波器结构融合两种优势文章出处:与非网数字存储示波器(DSO)现在已经摆到几乎每个工程师的工作台上。但是，许多DSO仍与模拟实时(ART)示波器放在 ...; 2553 5 0 5

用户71098 2008-7-4 16:37: DPO与示波器技术的发展; DPO与示波器技术的发展文章出处:与非网 1 DPO的特点　　　　数字荧光示波器 DPO （Digital phosphor Oscilloscopes）是Tektronix公司新推陈出新出的 ...; 2686 6 0 6

用户71098 2008-7-4 16:34: 一种新型的油库液位测量系统; 一种新型的油库液位测量系统文章出处:与非网【摘　要】　介绍了用光纤传输系统和可编程逻辑器件（EPLD）实现的油库液位测量系统，给出了系统结构框图和 ...; 2642 7 0 7

用户71098 2008-7-4 16:33: 基于LXI的仪器实现物理测量的优点; 基于LXI的仪器实现物理测量的优点作者：Sheri DeTomasi 开关/测量产品经理安捷伦科技有限公司像温度、应力、压力和流量等物理测量广泛应用在 ...; 3034 5 0 5

用户71098 2008-7-4 16:31: VXI总线测试系统; VXI总线测试系统文章出处:与非网引言　　在托卡马克等离子体物理放电过程中，破裂与据齿的研究具有重要的意义。在大多数托卡马克放电过程中都存在 ...; 2417 4 0 4

用户71098 2008-7-4 16:29: I2C总线应用下的EEPROM测试; I2C总线应用下的EEPROM测试文章出处:与非网摘要：I2C总线是最早由PHILIPS公司推出的新一代串行扩展总线，广泛应用于IC器件之间的连接。本文在分析了I2C ...; 3165 6 0 6

用户71098 2008-7-4 16:27: 在测试系统中使用合成仪器优势和劣势分析; 在测试系统中使用合成仪器优势和劣势分析文章出处:与非网几十年来，基于台式仪器的自动测试系统( ATS )一直是航空和国防应用中采用的主导架构。在20 ...; 2274 7 0 7

用户71098 2008-7-4 16:25: 下一代测试系统：用LXI 拓展视野; 下一代测试系统：用LXI 拓展视野文章出处:与非网　 LAN 对仪器的扩展（ LXI ）是基于广泛使用的标准，如以太网、 TCP/IP 、网络浏览器和 IVI- ...; 2434 5 0 5

用户71098 2008-7-4 16:20: 关于网络时代的测试新技术; 关于网络时代的测试新技术文章出处:与非网 1、前言 1.1现有测试技术方案存在的问题 GPIB 成本太高，需要昂贵的I/0卡和线缆；速度 ...; 3091 3 0 3

用户71098 2008-7-4 16:18: IC测试原理解析(第一部分); IC测试原理解析(第一部分) 文章出处:与非网本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理 ...; 2900 4 0 4

用户71098 2008-7-4 16:17: IC测试原理解析(第二部分); IC测试原理解析(第二部分) 文章出处:与非网芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第二章。我们在 ...; 2263 5 0 5

用户71098 2008-7-4 16:16: IC测试原理解析(第三部分); IC测试原理解析(第三部分) 文章出处:与非网芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第三章。我们在 ...; 2532 3 0 3

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