标签: hbled

The PSi C-Scale LED engine is a disruptive technology for high brightness LED applications. It caters to the growing demand of reliable, energy efficient LED lighting solutions in a unique way. The C-Scale LED engine is the only solution available using only bare copper to conduct heat away from the LED and, at the same time, enable the electrical connectivity of anode and cathode of the LED using highly automated semiconductor assembly processes. The C-Scale engine defines high brightness on top of the current scale. A 90lm/W light output has been achieved using standard HB LEDs and standard AL heat-sink and cooling fans. The correlated junction temperature of the LEDs hasn't exceeded 100°C. A 14,000lm engine with 36 LEDs and 100W electrical energy input has been successfully tested in the PSI Development laboratory. Also, here junction temperature below 100°C has been achieved.   The engine is easily adaptable to customer specific requirements in terms of light output, thermal interface material and heat-sink requirements. Even mechanical mounting features, electrical connectivity and corrosion protection can be integrated. Initial market segments to be targeted are projectors (pico and UHP bulb replacement), outdoor lighting (architectural, traffic, Flood lighting) and automotive lighting (head lights). - Thomas Moersheim, CTO, PSi Technologies Inc. Thomas Moersheim worked with Philips Semiconductors/NXP from 1984 to 2007 before joining Psi Technology as CTO in 2007. He has a BSc in mechanical engineering, is a six-sigma practitioner, and has one published patent and three pending.    

轻松支持当今具有挑战性的应用： n   功率半导体 、 HBLED 和光器件特性分析和测试 n   GaN 、 SIC 及其他复合材料和器件的特性分析 n   半导体结温特性分析 n   高速、高精度数字化 n   电迁移研究 n   大电流、大功率器件测试   1.         每种测量模式下使用两个 A/D 转换器 ( 一个用于电流，另一个用于电压 ) ，可同时运行用于准确源读回，不会影响测试效率。 当用于一个系统时，全部 2600A 系列的通道以 500ns 同步，实现真正的 SMU-per-pin 测试，主机不存在功率或通道限制。   2.         将热效应降至最小，准确特性分析半导体结温效应 n   准确源出和测量短至 100 μ s 的脉冲，并且脉冲从 100 μ s 至直流、上升时间从 25 μ s 、占空比从 1% 至 100% 可编程。 n   捕获快速变化现象，速率达 1,000,000 读数 / 秒，连续 1 μ s/ 点采样。   3.         提高试验可靠性和可重复性 精密定时和严格的通道同步对当今的测试要求至关重要。 2651A 型具有一款高性能触发型号，精确控制每一源测量步骤的定时。它还严格同步通道之间和 / 或其他 2600A 系列仪器之间的工作，采用 TSP-Link ，硬件速度 500ns 。更重要的是， SMU-per-pin 测试防止测量和负载信号失真。这些功能可帮助您提高吞吐量，降低可能损坏 DUT 的影响，并获得高准确度和可复现的测量结果。   4.         快速、简便地执行 I-V 测试 无需编程或安装， TSP ® Express 软件工具即执行常见的 I-V 测试。嵌入式测试脚本处理器 (TSP ® ) 使用户能够创建仪器可直接运行的脚本，进一步提高测试自动化。   该 TSP Express 测量屏幕所示为利用两台 2651A 单元并联获得 100A 脉冲能力。能够以图形或表格格式查看结果，然后导出至 .csv 格式文件，可用于电子表格软件。 从基本测试到高级测试，利用 TSP Express 都能快速、简便的配置。  

轻松支持当今具有挑战性的应用： n   功率半导体 、 HBLED 和光器件特性分析和测试 n   GaN 、 SIC 及其他复合材料和器件的特性分析 n   半导体结温特性分析 n   高速、高精度数字化 n   电迁移研究 n   大电流、大功率器件测试       1.      每种测量模式下使用两个 A/D 转换器 ( 一个用于电流，另一个用于电压 ) ，可同时运行用于准确源读回，不会影响测试效率。 当用于一个系统时，全部 2600A 系列的通道以 500ns 同步，实现真正的 SMU-per-pin 测试，主机不存在功率或通道限制。   2.         将热效应降至最小，准确特性分析半导体结温效应 n   准确源出和测量短至 100 μ s 的脉冲，并且脉冲从 100 μ s 至直流、上升时间从 25 μ s 、占空比从 1% 至 100% 可编程。 n   捕获快速变化现象，速率达 1,000,000 读数 / 秒，连续 1 μ s/ 点采样。   3.         提高试验可靠性和可重复性 精密定时和严格的通道同步对当今的测试要求至关重要。 2651A 型具有一款高性能触发型号，精确控制每一源测量步骤的定时。它还严格同步通道之间和 / 或其他 2600A 系列仪器之间的工作，采用 TSP-Link ，硬件速度 500ns 。更重要的是， SMU-per-pin 测试防止测量和负载信号失真。这些功能可帮助您提高吞吐量，降低可能损坏 DUT 的影响，并获得高准确度和可复现的测量结果。   4.         快速、简便地执行 I-V 测试 无需编程或安装， TSP ® Express 软件工具即执行常见的 I-V 测试。嵌入式测试脚本处理器 (TSP ® ) 使用户能够创建仪器可直接运行的脚本，进一步提高测试自动化。   该 TSP Express 测量屏幕所示为利用两台 2651A 单元并联获得 100A 脉冲能力。能够以图形或表格格式查看结果，然后导出至 .csv 格式文件，可用于电子表格软件。 从基本测试到高级测试，利用 TSP Express 都能快速、简便的配置。