标签: ADC测试

模数转换器（ADC）是数字电子系统中重要组成部分，用于捕获外部世界的模拟信号，如声音、图像、温度、压力等，并将它们转化为数字信号0\1, 以供计算机进行处理分析。ADC芯片在出厂交付之前，需要对产品的性能做各种测试，尤其对于要求可靠性和安全性较高的行业，诸如航空航天、医用医疗、汽车电子等应用领域，都需要对ADC芯片做严苛的性能测试验证。 ADC测试参数主要包括静态参数和动态参数。 静态参数主要表示ADC实际测量的输出曲线和理想输出曲线的关系，而动态参数着重分析ADC的频谱特性 。 静态测试常见参数 DNL： 对于给定的输入范围，ADC输出之间的步进量误差，用于衡量实际输出码和理想输出码的差距。 INL： 积分非线性，整个输入范围内的非线性误差，即真实与理想情况下码宽误差的累计。 Offset： 积分非线性，整个输入范围内的非线性误差，即真实与理想情况下码宽误差的累计。 Gain： 增益误差。输出全是1时，对应的实际电压和理想电压之差。 TUE： 在考虑所有误差来源的情况下，评估转换器的整体性能。 Missing code： 输出范围中未被转换器所表示的编码值。 图1. ADC静态参数测试 动态测试常见参数 THD： 总谐波失真，转换过程中非线性引起的谐波失真。 SNR： 信噪比，输出信号与内部噪声之比。 SFDR： 无杂散动态范围，就是基频信号不存在额外杂散分量的最大范围。 ENOB： 实际有效位数。在噪声和失真存在的情况下，ADC实际可达到的位数。 图2. ADC动态参数测试 德思特ADC测试解决方案 图3. 德思特ADC测试台架ATX7006A 目前针对ADC芯片的性能测试，表现出朝着高采样率、高精度等性能参数测试的发展趋势。 德思特提供完整的ADC测试解决方案，能够测试8-24位的ADC芯片，功能测试涵盖几乎所有典型的性能参数测试（包括静态参数测试和动态参数测试） 。我们采用紧凑型模块化集成的ATE测试硬件台架，配套专用的测试分析软件ATView和WaveAnalyzer，给您提供ADC测试交钥匙解决方案。 德思特ADC测试平台特点 ✓ 完全集成的ADC测试解决方案 ✓ 采样频率高达200/400 MHz ✓ 无与伦比的信号发生质量和精度 ✓ 支持所有线性/动态测试 ✓ 灵活和通用的数字IO ✓ 扩展分析软件ATView\WaveAnalyzer ✓ 静态、直方图测试 ✓ 易于用户自定义的测试脚本 图4. 德思特ADC测试系统架构 图5. 德思特ADC测试配套软件ATView 7006