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  • 2025-4-18 09:23
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    业内首家RISC-V DSP车规认证  广电计量助力中科昊芯树立行业新标杆
    RISC-V是基于精简指令集计算(RISC)原理建立的开源指令集架构,而RISC-V DSP则是在此基础上,专为数字信号处理设计的芯片。它具备开源、灵活可定制等特性,为众多领域的创新应用注入活力。近年来,随着众多芯片巨头的加入,包括AMD、高通、华为、英伟达、英特尔等,RISC-V的市场规模正在不断的发展和壮大,推进RISC-V的应用和生态系统的发展。 业界首家通过车规认证的RISC-V DSP 芯片供应商 近日,广电计量检测集团股份有限公司与北京中科昊芯科技有限公司成功举办了AEC-Q100认证证书授予仪式。广电计量集成电路测试与分析事业部副总经理王春亮与中科昊芯副总经理周沈刚等重要嘉宾出席了本次意义非凡的仪式。此次权威认证的授予,标志着中科昊芯成为业界首家通过车规认证的RISC-V DSP芯片供应商,而广电计量也凭借专业的检测能力,在推动汽车芯片行业发展中发挥了关键作用。 左:周沈刚 右:王春亮 严格且全面的检测 验证出产品卓越技术品质 随着汽车产业从燃油车向电动车的快速转型,车用芯片需求呈现出爆发式增长,同时,市场对于汽车芯片可靠性的要求也日益严苛。AEC-Q100标准由汽车电子委员会(AEC)开发,是针对汽车用集成电路(IC)的一套全面的可靠性测试和认证程序,已然成为芯片产品进军汽车行业的核心准入门槛。 本次通过车规认证的中科昊芯F280025C,作为其32位高性能RISC-V DSP的拳头产品之一,在经过广电计量严格且全面的检测流程后,成功满足了AEC-Q100标准的各项要求。未来,中科昊芯将持续深耕汽车及工业领域,不断推出更多高性能车规级DSP芯片及解决方案,助力汽车电子领域的创新与升级。 智由芯生 创享未来 北京中科昊芯科技有限公司成立于 2019 年,是国家级专精特新 “小巨人” 及国家高新技术企业。作为中国科学院科技成果转化企业,其在全球范围内率先使用RISC-V开源指令集架构进行DSP的设计并实现量产,构建了完善的处理器产品生态体系,在工业控制、新能源汽车、光伏储能及白色家电等领域提供高性能、高可靠性的芯片及解决方案。中科昊芯自研的 H28x 内核专为工业控制、电机驱动等高实时性场景设计,搭配自主研发的Haawking IDE、Haawking-Downloader编程工具及 HXLink系列仿真器等,均已大规模商用,实现了从内核到工具的完全自主可控,有效解决了国内 DSP 应用市场长期面临的应用生态和知识产权难题。 公司核心产品线HX2000系列32位RISC-V DSP,集成高性能内核与应用外设,在处理、传感和驱动方面深度优化,显著提升实时控制应用中的闭环性能。目前,中科昊芯可提供10多个产品系列,近百款型号选择,已在多个领域头部企业批量应用。 此次通过AEC-Q100认证的F280025C,基于中科昊芯自主研发的H28x RISC-V DSP内核,32位浮点,支持多种通信端口,具备多种增强型控制外设、支持FOC算法、有感/无感角度分析,并增加了可配置逻辑模块(CLB),十分适用于新能源汽车车载OBC、DC-DC转换器、汽车热管理系统及电控系统等严苛环境。 国内覆盖芯片种类最多、技术能力最全面的第三方检测机构 广电计量是国内半导体集成电路领域技术能力最全面、知名度最广的上市第三方检测机构,聚焦高功率、高速度、高集成和高算力的先进半导体及超大规模集成电路国产自主可控需求,致力于为半导体全产业链提供专业的质量评价与可靠性提升技术服务。 在AEC-Q100认证服务过程中,广电计量充分发挥自身在集成电路检测方面的专业技术优势,为认证工作的顺利推进提供了坚实保障。通过严格依据 AEC-Q100 标准进行各项可靠性测试,确保了产品符合汽车行业的高要求。 服务案例 已完成MCU、AI芯片、安全芯片等上百个型号的芯片验证,并支持完成多款型号芯片的工程化和量产。 为国内三分之二的功率器件龙头企业提供参数测试、可靠性试验及失效分析。 在第三代半导体检测领域合作客户超过80家,样品数量三十余万只。
  • 热度 7
    2024-3-19 11:45
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    2022年8月汽车电子委员协会(AEC)正式发布了AEC-Q102-003光电多芯片模组(OE-MCMs)的认证标准。Q102-003标准颁布的目的是在AEC-Q104多芯片模组的基础上对含光电多芯片模组的实际测试细节进行规范指导,满足目前逐渐增加的光电模组的认证需求。主要面向的对象是矩阵前照灯、智能RGB led及红外传感器(重点是激光雷达模组)等产品。 认证范围 AEC-Q102-003中定义的OE-MCMs是由至少包含一种光电器件的多个有源或无源器件组成,这些子组件通过焊接或胶粘方式相互连接到线路板上构成复杂电路封装在单个多芯片模组内。构成模组内的子组件可以是封装(例如塑封)和/或者未封装(例如裸芯)的形态。从标准规范、测试认证、商业和维护的角度考虑,多芯片模组在认证上是不可分割的,因此需要注意的是,如果产品仅以OE-MCM的形式通过认证,则模组中的任何单个子组件都不能被视为通过AEC认证。 OE-MCMs的主要目的是检测光信号或发射光信号,但有一些OE-MCMs是利用其自身内部光电信号功能(例如,光耦、光栅传感器)。标准中给出了OE-MCMs五种常见类型分类,见下图1,具体如下: · Type A 由不同家族光电器件组成MCM模组(例如红外线反射式光电开关)。 · Type B 由不同家族的光电器件组成,这些光电器件不是用来作为光信号的输入、输出,只是利用其内部的光电信号功能(例如光耦、光栅传感器)。 · Type C 由光电器件与其他IC器件组成(例如RGB LED灯)。 · Type D MCM或PCB上的光电器件和其他芯片不可分割组成(例如矩阵式LED头灯)。 · Type E 包含光电器件的IC封装(CMOS传感器)。 · Type F 带有光电和其他子组件的PCB或基板,但不被作为单独个体,被用于直接连接到电路板(例如,通过焊接或胶粘方式)作为组件出售(例如,脉冲激光模组)。需重点说明的是,在实际情况下可能会很难明确产品是否符合该类型,需要兼顾产品的实际使用情况,客户需求进行灵活调整。 图1 OE-MCMs五种常见类型分类 OE-MCM认证流程 OE-MCM的认证应覆盖所有子组件的失效、组件到基板的连接性能及子组件之间相互作用构成的失效。因此,OE-MCM的认证除了所有子组件需要进行的必要测试外,还需要补充一些额外的测试,各子组件中一些相同的测试可以同时进行或者替换。完整的一套认证流程如图2所示: 图2 OE-MCM认证流程 · Step1:针对一个完整OE-MCM创建超集认证测试如图3。如果OE-MCM中至少包含一个IC集成电路,Q100测试应该是测试超集的一部分。如果至少包含一个分立半导体器件,Q101测试应该是超集的一部分。同样的方法也适用于光电器件(Q102),MEMS器件(Q103),无源器件(Q200)和其他未来可能会发布的元件组。在此之外,还需要有针对整个OE-MCM模组的特定测试,如板级可靠性、X-Ray和超声波扫描。 · Step2:将测试超集中相同失效机理的测试项合并为一组。 · Step3:评估每一组是否可以用一个测试条件和时间覆盖所有的测试项目。如果可以就只进行这一项测试。这里要注意,测试条件不得超过模组产品规格书宣称的范围。 · Step 4:可以使用通用数据和来自子组件级认证测试做替代测试。例如,可以使用其他封装的AEC-Qxxx测试的通用数据,但与封装相关的测试认证仍然必须在OE-MCM级别进行完成。如果在完整的OE-MCM中不能处理和测试所有子组件功能,可以优先考虑在子组件级别进行测试,然而,子组件级别的测试可能无法检测出不同子组件之间相互作用产生的失效机制和可靠性问题。子组件级的测试并不能完全排除供应商在OE-MCM中可能存在的风险和确保子组件可靠性的责任。因此还需要进行其他额外测试,以排除不同子组件之间可能出现的相互作用,包括: 1)均匀或非均匀热应力; 2)机械应力; 3)来自LED辐射产生的光电流; 4)与来自OE-MCM挥发有机物质反应。 · Step 5: 在OE-MCM级别上执行未在步骤3和4中省略的所有超集测试。 图3完整OE-MCM超集图示 超集创建注意事项 光电多芯片模组内子组件种类繁多,图3中的超集图示也不能完全涵盖所有种类。例如,AEC-Q103在超集中没有被提及。如果OE-MCM包含MEMS子组件,应以同样的方法创建超集并考虑AEC-Q103测试。同样,后续AEC-Q标准持续更新新项目也应同理纳入超集认证范围。 一些测试只适用于AEC-Q标准中的某些组件类型。例如,AEC-Q102中的低温工作寿命试验(LTOL)只适用于激光组件,不适用于LED组件。在这种情况下,不含激光组件的OE-MCM不需要考虑AEC-Q102 LTOL。每个AEC标准都会不时地更新,这可能会对超集产生影响。供应商和用户在制定综合鉴定测试计划、数据展示和超集模板时应使用标准最新的有效版本。每个标准都可在http://www.aecouncil.com单独下载。在测试中,可以根据实际情况调整OE-MCM的具体测试条件。例如,由于热限制或OE-MCM的设计概念,可能无法同时操作D型OE-MCM的所有LED模具(像素)。具体的测试条件和变化需经过供应商和用户双方达成协议并详细记录实验数据。 失效判据 1)不符合OE-MCM规范。 2)整体OE-MCM以及每个单独的芯片性能和光参数(如通量,颜色,亮度)的漂移超出允许值。 3)对于一些OE-MCM (例如,用于高分辨率前灯矩阵功能的led),额外失效标准可由供应商和用户双方协商确定。 样品数量 认证所需样本数量在超集定义文件中有明确规定,具体超集文件可从http://www.aecouncil.com下载。对于非常复杂的OE - MCM(例如,用于非常高分辨率前照灯矩阵功能的led),受成本因素影响,在供应商和用户之间的达成协议的基础上,样本数量可以从3 x 26个减小到3 × 10个。此外,对于复杂性非常高的OE - MCM,根据供应商和用户之间的协议,测试ELFR的样本量也可以减少,数量由供应商和用户确定。 广电计量服务优势 ●测试能力全:覆盖现有发布标准类测试和客户所需定制化的测试,满足不同测试需求。 ●测试经验丰富:专业测试团队由技术专家和资深测试人员组成,具备成熟的测试分析和开发能力。 ●专业测试场地和设备:既有标准化专业测试场地,也有个性定制化公开道路,测试场景丰富,可全面、高质量完成测试任务。