标签: 原子显微镜

CINNO Research产业资讯，据了解，韩国主要电子厂商今年初首次订购了AFM(原子显微镜)设备，用于可穿戴设备的LEDoS(LED on silicon)开发。 AFM是一种可分析到纳米级的测量技术。AFM设备以往用来检测大尺寸面板的样品，预计今年起也能为加快韩国Micro Display的开发做出贡献。 根据韩媒Zdnet Korea报道，据业界4月23日消息，韩国主要电子厂商为开发OELDiS，计划今年下半年引进AFM设备。 按应用技术划分的Micro Display面板结构(来源：三星显示) OLEDoS是继OLED之后的新一代显示，被备受瞩目的Micro Display(微型显示)的种类之一。Micro Display是指在1英寸(2.54厘米)左右的小尺寸上，具有数千PPI(每英寸像素数)级别的高像素密度的超高分辨率显示的统称。 OLEDoS的独特之处在于，它采用无机物发光二极管（LED）蒸镀在硅基板上，而非传统的玻璃基板。硅基板相较于玻璃基板，其电路中的电子移动速度更快，因此有助于提升面板的响应速度，实现更为清晰细腻的画质。 然而，随着基板材料的改变以及像素密度的不断提升，OLEDoS的开发难度也相应增大。目前，除了良品率管理的问题外，可穿戴设备所要求的高亮度面板实现也面临着诸多挑战。 为了应对这些挑战，韩国的主要电子厂商在今年初纷纷订购了AFM设备，并计划将其安装在OLEDoS面板的研发产线上。这一举措是对AR（增强现实）、XR（扩展现实）等可穿戴设备用面板开发的重要投资。预计该设备将在今年下半年中完成安装。 AFM设备以其独特的测量方式脱颖而出，其探针能够以原子为单位接近样品表面，并通过与表面之间的相互作用来精确测量样品。与传统的电子显微镜（SEM）相比，AFM能够实现数纳米（nm）级别的极高精度测量。 过去，AFM主要被用于测量韩国主要显示厂商生产的大尺寸面板样品的粗糙度、段差等参数。然而，今年首次为OLEDoS产线引入了AFM设备，逐渐拓展了在微型显示领域的应用。 显示行业的相关人士表示：“LEDoS、OLEDoS等Micro Display的开发难度超出了最初的预期，因此对精密测量的需求也在持续上升。”他们进一步指出：“对于LEDoS而言，要达到至少3000PPI的面板检查标准，采用AFM设备是不可或缺的。”