标签: 漏泄电流

确定了电流偏移、漏流及所有不稳定性后，采取措施减小测量误差将有助于提高测量准确度。这些误差源包括建立时间不足、静电干扰、漏泄电流、摩擦效应、压电效应、污染、湿度、接地环路，以及源阻抗。 图 5 中汇总了本节讨论的部分电流的幅值。   图5. 产生电流的典型幅值 建立时间和定时菜单设置 测量电路的建立时间在测量小电流和高电阻时尤其重要。建立时间是指施加或改变电流或电压后测量达到稳定的时间。影响测量电路建立时间的因素包括并联电容(C SHUNT )和源电阻(R S )。并联电容是由于连接电缆、测试夹具、开关和探针造成的。DUT的源电阻越高，建立时间越长。 图 6 的测量电路中标出了并联电容和源电阻。   图6. 包含C SHUNT 和R S 的SMU测量电路   建立时间是RC时间常数τ的结果，其中： τ = R S C SHUNT 以下为计算建立时间的一个例子，假设 C SHUNT = 10pF，R S = 1TΩ，那么： τ = 10pF × 1TΩ = 10s 因此，读数稳定至最终值的1%所需的建立时间为τ的5倍，也就是50秒。 图 7 所示为RC电路的阶跃电压指数响应。经过一个时间常数(τ = RC)后，电压上升至最终值的63%。   图7. RC电路的阶跃电压指数响应 为了成功测量小电流，重要的是每次测量留有足够的时间，尤其是扫描电压时。对于扫描模式，可在“ Sweep Delay”(扫描延迟)域的“Timing”(定时)菜单中添加建立时间；对于采样模式，则在“Interval time”域内。为了确定需要增加多长间隔时间，通过绘制电流-时间图，测量DUT稳定至某个阶跃电压的建立时间。阶跃电压应该是DUT实际测量中使用的偏执电压。可利用 LowCurrent 项目中的ITM测量建立时间。应适当增加“Timing”(定时)菜单中的“#Samples”，以确保稳定后的读数显示在图形中。在测量小电流时，采用“Quiet Speed Mode”或在“Timing”菜单中增加额外滤波。请注意，这是噪声和速度之间的平衡。滤波和延迟越大，噪声越小，但是测量速度也越小。

确定了电流偏移、漏流及所有不稳定性后，采取措施减小测量误差将有助于提高测量准确度。这些误差源包括建立时间不足、静电干扰、漏泄电流、摩擦效应、压电效应、污染、湿度、接地环路，以及源阻抗。 图 5 中汇总了本节讨论的部分电流的幅值。   图5. 产生电流的典型幅值 建立时间和定时菜单设置 测量电路的建立时间在测量小电流和高电阻时尤其重要。建立时间是指施加或改变电流或电压后测量达到稳定的时间。影响测量电路建立时间的因素包括并联电容(C SHUNT )和源电阻(R S )。并联电容是由于连接电缆、测试夹具、开关和探针造成的。DUT的源电阻越高，建立时间越长。 图 6 的测量电路中标出了并联电容和源电阻。   图6. 包含C SHUNT 和R S 的SMU测量电路   建立时间是RC时间常数τ的结果，其中： τ = R S C SHUNT 以下为计算建立时间的一个例子，假设 C SHUNT = 10pF，R S = 1TΩ，那么： τ = 10pF × 1TΩ = 10s 因此，读数稳定至最终值的1%所需的建立时间为τ的5倍，也就是50秒。 图 7 所示为RC电路的阶跃电压指数响应。经过一个时间常数(τ = RC)后，电压上升至最终值的63%。   图7. RC电路的阶跃电压指数响应 为了成功测量小电流，重要的是每次测量留有足够的时间，尤其是扫描电压时。对于扫描模式，可在“ Sweep Delay”(扫描延迟)域的“Timing”(定时)菜单中添加建立时间；对于采样模式，则在“Interval time”域内。为了确定需要增加多长间隔时间，通过绘制电流-时间图，测量DUT稳定至某个阶跃电压的建立时间。阶跃电压应该是DUT实际测量中使用的偏执电压。可利用 LowCurrent 项目中的ITM测量建立时间。应适当增加“Timing”(定时)菜单中的“#Samples”，以确保稳定后的读数显示在图形中。在测量小电流时，采用“Quiet Speed Mode”或在“Timing”菜单中增加额外滤波。请注意，这是噪声和速度之间的平衡。滤波和延迟越大，噪声越小，但是测量速度也越小。   本系列文章列表： 分析系统优化小电流测量- 引言 分析系统优化小电流测量——内部偏移 分析系统优化小电流测量——外部偏移 小电流测量误差源及减小误差的方法