标签: 静电抑制器

生活中，静电放电的危害无处不在，很多电子产品都设计有对外的连接端子，最为常见的要属 USB了，现在很多电子产品都有这个接口，并且由于USB接口可热插拔，会容易产生不可避免的人为因素，导致静电损坏器件，如死机、烧板等。使用USB接口的用户迫切需求加大 ESD防护 设计的器件。 通常我们在 USB线路上布局ESD防护器件：电源线与地之间会放置一颗 CV0402VT6101 的高分子聚合物静电抑制器,参数为：6V,100PF,0402封装;差分线对数据传送速度高达480Mbps,需要器件的结电容（即寄生电容）不能太大，不然会影响数据信号传输，我们通常先择3PF以下的， CV0402VT6030T 这颗静电管的参数为6V,3PF,0402封装。这样，我们就基本从元器件部局方面对静电进行了有效的抑制和泄放。 在实际测试中，我们会发现，其实除了 ESD静电的影响，USB的辐射也是一个比较难解决的问题，除了选择比较好的USB数据线外，我们还要从板内的USB走线进行有效的布局。 USB2.0的PCB布线要遵循以下原则。 (1)差分线对要保持等长匹配，否则会影响时序偏移，降低信号的质量，增加了EMI辐射问题; (2) 差分线对之间的间距保持小于10mm,并增大与其他信号走线的间距; ( 3)差分走线要求在同一板层，不同层产生的诸如阻抗、过孔的差别会破坏差模传输的效果，引 起 共模噪声 ; ( 4)差分走线周边进行包地处地，并沿地隔3-5mm左右放置过孔 (5)尽量减少过孔和其他会引起线路不连续性的因素; (6)避免导致阻值不连续性的90°走线，使用圆弧或45°折线来代 替 (7) USB端引脚附近放置ESD防护器件， 并放置在端口位置 。 差分线要串联 贴片共模电感 ： CMF1210DH900MFR 。以衰减EMI共模从USB线辐射出去。

  ESD失效类型：     (1)突发性失效：     这是一次性造成产品的硬件实质性的破坏。如使产品中器件的介质击穿、烧毁或使器件开路、短路等永久失效。这种失效的几率约占总失效数的10％左右。     (2)潜在性失效：     这是一种累积型的软损伤，它会影响器件的性能、指标和寿命，造成不可见的隐患，也必然会危及系统的功能。如降低器件抗静电能力与工作的可靠性。这种失效的几率占90％左右。     (3)瞬间失效： 不会对产品和器件造成大的危害，但却可以被人感觉到(如屏幕雪花、数字  瞬间闪烁以及微机死机可再恢复等)。这种效应一般是可以接受的。 静电的损伤是偶然性的，所以，不是通过电磁兼容可靠性筛选能够剔除的。        随着科学的发展，目前的电器体积越来越小，越来越集成化，这样对静电的要求就更加严格了，对ESD的保护显得越来越有必要了，现 深圳市安达森科技 推出一系列的高分子聚合物的ESD保护元器件与整改方案。