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2014-8-21 11:36
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====================================== SDRAM芯片初始化、行有效、列读写时序 上文我们已经了解了SDRAM所用到的基本信号线路,下面就看看它们在SDRAM芯片内部是怎么“布置”的,并从这里开始深入了解内存的基本操作与过程, 在这一节中我们将接触到有天书之称的时序图,但不要害怕,根据文中的指导慢慢理解,您肯定可以看懂它。首先,我们先认识一下SDRAM的内部结构,然后再 开始具体的讲述。 128Mbit(32M×4)SDRAM内部结构图(点击放大) 芯片初始化 可能很多人都想象不到,在SDRAM芯片内部还有一个逻辑控制单元,并且有一个模式寄存器为其提供控制参数。因此,每次开机时SDRAM都要先对这个控制 逻辑核心进行初始化。有关预充电和刷新的含义在下文有讲述,关键的阶段就在于模式寄存器(MR,Mode Register)的设置,简称MRS(MR Set),这一工作由北桥芯片在BIOS的控制下进行,寄存器的信息由地址线来提供。 SDRAM在开机时的初始化过程 SDRAM模式寄存器所控制的操作参数:地址线提供不同的0/1信号来获得不同的参数。在设置到MR之后,就开始了进入正常的工作状态,图中相关参数将结合下文具体讲述 行有效 初始化完成后,要想对一个L-Bank中的阵列进行寻址,首先就要确定行(Row),使之处于活动状态(Active),然后再确定列。虽然之前要进行片选和L-Bank的定址,但它们与行有效可以同时进行。 行有效时序图 从图中可以看出,在CS#、L-Bank定址的同时,RAS(Row Address Strobe,行地址选通脉冲)也处于有效状态。此时An地址线则发送具体的行地址。如图中是A0-A11,共有12个地址线,由于是二进制表示法,所以 共有4096个行(212=4096),A0-A11的不同数值就确定了具体的行地址。由于行有效的同时也是相应L-Bank有效,所以行有效也可称为L -Bank有效。 列读写 行地址确定之后,就要对列地址进行寻址了。但是,地址线仍然是行地址所用的A0-A11(本例)。没错,在SDRAM中,行地址与列地址线是共用的。不 过,读/写的命令是怎么发出的呢?其实没有一个信号是发送读或写的明确命令的,而是通过芯片的可写状态的控制来达到读/写的目的。显然WE#信号就是一个 关键。WE#无效时,当然就是读取命令。 SDRAM基本操作命令, 通过各种控制/地址信号的组合来完成(H代表高电平,L代表低电平,X表示高低电平均没有影响)。此表中,除了自刷新命令外,所有命令都是默认CKE有效。对于自刷新命令,下文有详解 列寻址信号与读写命令是同时发出的。虽然地址线与行寻址共用,但CAS(Column Address Strobe,列地址选通脉冲)信号则可以区分开行与列寻址的不同,配合A0-A9,A11(本例)来确定具体的列地址。 读写操作示意图,读取命令与列地址一块发出(当WE#为低电平是即为写命令) 然而,在发送列读写命令时必须要与行有效命令有一个间隔,这个间隔被定义为tRCD,即RAS to CAS Delay(RAS至CAS延迟),大家也可以理解为行选通周期,这应该是根据芯片存储阵列电子元件响应时间(从一种状态到另一种状态变化的过程)所制定 的延迟。tRCD是SDRAM的一个重要时序参数,可以通过主板BIOS经过北桥芯片进行调整,但不能超过厂商的预定范围。广义的tRCD以时钟周期 (tCK,Clock Time)数为单位,比如tRCD=2,就代表延迟周期为两个时钟周期,具体到确切的时间,则要根据时钟频率而定,对于PC100 SDRAM,tRCD=2,代表20ns的延迟,对于PC133则为15ns。 tRCD=3的时序图 ================================== SDRAM的读/写时序与突发长度 数据输出(读) 在选定列地址后,就已经确定了具体的存储单元,剩下的事情就是数据通过数据I/O通道(DQ)输出到内存总线上了。但是在CAS发出之后,仍要经过一定的 时间才能有数据输出,从CAS与读取命令发出到第一笔数据输出的这段时间,被定义为CL(CAS Latency,CAS潜伏期)。由于CL只在读取时出现,所以CL又被称为读取潜伏期(RL,Read Latency)。CL的单位与tRCD一样,为时钟周期数,具体耗时由时钟频率决定。 不过,CAS并不是在经过CL周期之后才送达存储单元。实际上CAS与RAS一样是瞬间到达的,但CAS的响应时间要更快一些。为什么呢?假设芯片位宽为 n个bit,列数为c,那么一个行地址要选通n×c个存储体,而一个列地址只需选通n个存储体。但存储体中晶体管的反应时间仍会造成数据不可能与CAS在 同一上升沿触发,肯定要延后至少一个时钟周期。 由于芯片体积的原因,存储单元中的电容容量很小,所以信号要经过放大来保证其有效的识别性,这个放大/驱动工作由S-AMP负责,一个存储体对应一个S- AMP通道。但它要有一个准备时间才能保证信号的发送强度(事前还要进行电压比较以进行逻辑电平的判断),因此从数据I/O总线上有数据输出之前的一个时 钟上升沿开始,数据即已传向S-AMP,也就是说此时数据已经被触发,经过一定的驱动时间最终传向数据I/O总线进行输出,这段时间我们称之为tAC (Access Time from CLK,时钟触发后的访问时间)。tAC的单位是ns,对于不同的频率各有不同的明确规定,但必须要小于一个时钟周期,否则会因访问时过长而使效率降低。 比如PC133的时钟周期为7.5ns,tAC则是5.4ns。需要强调的是,每个数据在读取时都有tAC,包括在连续读取中,只是在进行第一个数据传输 的同时就开始了第二个数据的tAC。 CL=2与tAC示意图 CL的数值不能超出芯片的设计规范,否则会导致内存的不稳定,甚至开不了机(超频的玩家应该有体会),而且它也不能在数据读取前临时更改。CL周期在开机 初始化过程中的MRS阶段进行设置,在BIOS中一般都允许用户对其调整,然后BIOS控制北桥芯片在开机时通过A4-A6地址线对MR中CL寄存器的信 息进行更改。 不过,从存储体的结构图上可以看出,原本逻辑状态为1的电容在读取操作后,会因放电而变为逻辑0。所以,以前的DRAM为了在关闭当前行时保证数据的可靠 性,要对存储体中原有的信息进行重写,这个任务由数据所经过的刷新放大器来完成,它根据逻辑电平状态,将数据进行重写(逻辑0时就不重写),由于这个操作 与数据的输出是同步进行互不冲突,所以不会产生新的重写延迟。后来通过技术的改良,刷新放大器被取消,其功能由S-AMP取代,因为在读取时它会保持数据 的逻辑状态,起到了一个Cache的作用,再次读取时由它直接发送即可,不用再进行新的寻址输出,此时数据重写操作则可在预充电阶段完成。 数据输入(写) 数据写入的操作也是在tRCD之后进行,但此时没有了CL(记住,CL只出现在读取操作中),行寻址与列寻址的时序图和上文一样,只是在列寻址时,WE#为有效状态。 数据写入的时序图 从图中可见,由于数据信号由控制端发出,输入时芯片无需做任何调校,只需直接传到数据输入寄存器中,然后再由写入驱动器进行对存储电容的充电操作,因此数 据可以与CAS同时发送,也就是说写入延迟为0。不过,数据并不是即时地写入存储电容,因为选通三极管(就如读取时一样)与电容的充电必须要有一段时间, 所以数据的真正写入需要一定的周期。为了保证数据的可靠写入,都会留出足够的写入/校正时间(tWR,Write Recovery Time),这个操作也被称作写回(Write Back)。tWR至少占用一个时钟周期或再多一点(时钟频率越高,tWR占用周期越多),有关它的影响将在下文进一步讲述。 突发长度 突发(Burst)是指在同一行中相邻的存储单元连续进行数据传输的方式,连续传输所涉及到存储单元(列)的数量就是突发长度(Burst Lengths,简称BL)。 在目前,由于内存控制器一次读/写P-Bank位宽的数据,也就是8个字节,但是在现实中小于8个字节的数据很少见,所以一般都要经过多个周期进行数据的 传输。上文讲到的读/写操作,都是一次对一个存储单元进行寻址,如果要连续读/写就还要对当前存储单元的下一个单元进行寻址,也就是要不断的发送列地址与 读/写命令(行地址不变,所以不用再对行寻址)。虽然由于读/写延迟相同可以让数据的传输在I/O端是连续的,但它占用了大量的内存控制资源,在数据进行 连续传输时无法输入新的命令,效率很低(早期的FPE/EDO内存就是以这种方式进行连续的数据传输)。为此,人们开发了突发传输技术,只要指定起始列地 址与突发长度,内存就会依次地自动对后面相应数量的存储单元进行读/写操作而不再需要控制器连续地提供列地址。这样,除了第一笔数据的传输需要若干个周期 (主要是之前的延迟,一般的是tRCD+CL)外,其后每个数据只需一个周期的即可获得。在很多北桥芯片的介绍中都有类似于X-1-1-1的字样,就是指 这个意思,其中的X代表就代表第一笔数据所用的周期数。 非突发连续读取模式:不采用突发传输而是依次单独寻址,此时可等效于BL=1。虽然可以让数据是连续的传输,但每次都要发送列地址与命令信息,控制资源占用极大 突发连续读取模式:只要指定起始列地址与突发长度,寻址与数据的读取自动进行,而只要控制好两段突发读取命令的间隔周期(与BL相同)即可做到连续的突发传输 至于BL的数值,也是不能随便设或在数据进行传输前临时决定。在上文讲到的初始化过程中的MRS阶段就要对BL进行设置。目前可用的选项是1、2、4、 8、全页(Full Page),常见的设定是4和8。顺便说一下,BL能否更改与北桥芯片的设计有很大关系,不是每个北桥都能像调整CL那样来调整BL。某些芯片组的BL是 定死而不可改的,比如Intel芯片组的BL基本都为4,所以在相应的主板BIOS中也就不会有BL的设置选项。而由于目前的SDRAM系统的数据传输是 以64bit/周期进行,所以在一些BIOS也把BL用QWord(4字,即64bit)来表示。如4QWord就是BL=4。 另外,在MRS阶段除了要设定BL数值之外,还要具体确定读/写操作的模式以及突发传输的模式。突发读/突发写,表示读与写操作都是突发传输的,每次读/ 写操作持续BL所设定的长度,这也是常规的设定。突发读/单一写,表示读操作是突发传输,写操作则只是一个个单独进行。突发传输模式代表着突发周期内所涉 及到的存储单元的传输顺序。顺序传输是指从起始单元开始顺序读取。假如BL=4,起始单元编号是n,顺序就是n、n+1、n+2、n+3。交错传输就是打 乱正常的顺序进行数据传输(比如第一个进行传输的单元是n,而第二个进行传输的单元是n+2而不是n+1),至于交错的规则在SDRAM规范中有详细的定 义表,但在这此出于必要性与篇幅的考虑就不列出了。 SDRAM芯片的预充电与刷新操作 预充电 由于SDRAM的寻址具体独占性,所以在进行完读写操作后,如果要对同一L-Bank的另一行进行寻址,就要将原来有效(工作)的行关闭,重新发送行/列 地址。L-Bank关闭现有工作行,准备打开新行的操作就是预充电(Precharge)。预充电可以通过命令控制,也可以通过辅助设定让芯片在每次读写 操作之后自动进行预充电。实际上,预充电是一种对工作行中所有存储体进行数据重写,并对行地址进行复位,同时释放S-AMP(重新加入比较电压,一般是电 容电压的1/2,以帮助判断读取数据的逻辑电平,因为S-AMP是通过一个参考电压与存储体位线电压的比较来判断逻辑值的),以准备新行的工作。具体而 言,就是将S-AMP中的数据回写,即使是没有工作过的存储体也会因行选通而使存储电容受到干扰,所以也需要S-AMP进行读后重写。此时,电容的电量 (或者说其产生的电压)将是判断逻辑状态的依据(读取时也需要),为此要设定一个临界值,一般为电容电量的1/2,超过它的为逻辑1,进行重写,否则为逻 辑0,不进行重写(等于放电)。为此,现在基本都将电容的另一端接入一个指定的电压(即1/2电容电压),而不是接地,以帮助重写时的比较与判断。 现在我们再回过头看看读写操作时的命令时序图,从中可以发现地址线A10控制着是否进行在读写之后当前L-Bank自动进行预充电,这就是上文所说的“辅 助设定”。而在单独的预充电命令中,A10则控制着是对指定的L-Bank还是所有的L-Bank(当有多个L-Bank处于有效/活动状态时)进行预充 电,前者需要提供L-Bank的地址,后者只需将A10信号置于高电平。 在发出预充电命令之后,要经过一段时间才能允许发送RAS行有效命令打开新的工作行,这个间隔被称为tRP(Precharge command Period,预充电有效周期)。和tRCD、CL一样,tRP的单位也是时钟周期数,具体值视时钟频率而定。 读取时预充电时序图(上图可点击放 大):图中设定:CL=2、BL=4、tRP=2。自动预充电时的开始时间与此图一样,只是没有了单独的预充电命令,并在发出读取命令时,A10地址线要 设为高电平(允许自动预充电)。可见控制好预充电启动时间很重要,它可以在读取操作结束后立刻进入新行的寻址,保证运行效率。 误区:读写情况下都要考虑写回延迟 有些文章强调由于写回操作而使读/写操作后都有一定的延迟,但从本文的介绍中写可以看出,即使是读后立即重写的设计,由于是与数据输出同步进行,并不存 在延迟。只有在写操作后进行其他的操作时,才会有这方面的影响。写操作虽然是0延迟进行,但每笔数据的真正写入则需要一个足够的周期来保证,这段时间就是 写回周期(tWR)。所以预充电不能与写操作同时进行,必须要在tWR之后才能发出预充电命令,以确保数据的可靠写入,否则重写的数据可能是错的,这就造 成了写回延迟。 数据写入时预充电操作时序图(可点击放大):注意其中的tWR参数,由于它的存在,使预充电操作延后,从而造成写回延迟 刷新 之所以称为DRAM,就是因为它要不断进行刷新(Refresh)才能保留住数据,因此它是DRAM最重要的操作。 刷新操作与预充电中重写的操作一样,都是用S-AMP先读再写。但为什么有预充电操作还要进行刷新呢?因为预充电是对一个或所有L-Bank中的工作行操 作,并且是不定期的,而刷新则是有固定的周期,依次对所有行进行操作,以保留那些久久没经历重写的存储体中的数据。但与所有L-Bank预充电不同的是, 这里的行是指所有L-Bank中地址相同的行,而预充电中各L-Bank中的工作行地址并不是一定是相同的。 那么要隔多长时间重复一次刷新呢?目前公认的标准是,存储体中电容的数据有效保存期上限是64ms(毫秒,1/1000秒),也就是说每一行刷新的循环周 期是64ms。这样刷新速度就是:行数量/64ms。我们在看内存规格时,经常会看到4096 Refresh Cycles/64ms或8192 Refresh Cycles/64ms的标识,这里的4096与8192就代表这个芯片中每个L-Bank的行数。刷新命令一次对一行有效,发送间隔也是随总行数而变 化,4096行时为15.625μs(微秒,1/1000毫秒),8192行时就为7.8125μs。 刷新操作分为两种:自动刷新(Auto Refresh,简称AR)与自刷新(Self Refresh,简称SR)。不论是何种刷新方式,都不需要外部提供行地址信息,因为这是一个内部的自动操作。对于AR, SDRAM内部有一个行地址生成器(也称刷新计数器)用来自动的依次生成行地址。由于刷新是针对一行中的所有存储体进行,所以无需列寻址,或者说CAS在 RAS之前有效。所以,AR又称CBR(CAS Before RAS,列提前于行定位)式刷新。由于刷新涉及到所有L-Bank,因此在刷新过程中,所有L-Bank都停止工作,而每次刷新所占用的时间为9个时钟周 期(PC133标准),之后就可进入正常的工作状态,也就是说在这9 个时钟期间内,所有工作指令只能等待而无法执行。64ms之后则再次对同一行进行刷新,如此周而复始进行循环刷新。显然,刷新操作肯定会对SDRAM的性 能造成影响,但这是没办法的事情,也是DRAM相对于SRAM(静态内存,无需刷新仍能保留数据)取得成本优势的同时所付出的代价。 SR则主要用于休眠模式低功耗状态下的数据保存,这方面最著名的应用就是STR(Suspend to RAM,休眠挂起于内存)。在发出AR命令时,将CKE置于无效状态,就进入了SR模式,此时不再依靠系统时钟工作,而是根据内部的时钟进行刷新操作。在 SR期间除了CKE之外的所有外部信号都是无效的(无需外部提供刷新指令),只有重新使CKE有效才能退出自刷新模式并进入正常操作状态。 数据掩码 在讲述读/写操作时,我们谈到了突发长度。如果BL=4,那么也就是说一次就传送4×64bit的数据。但是,如果其中的第二笔数据是不需要的,怎么办? 还都传输吗?为了屏蔽不需要的数据,人们采用了数据掩码(Data I/O Mask,简称DQM)技术。通过DQM,内存可以控制I/O端口取消哪些输出或输入的数据。这里需要强调的是,在读取时,被屏蔽的数据仍然会从存储体传 出,只是在“掩码逻辑单元”处被屏蔽。DQM由北桥控制,为了精确屏蔽一个P-Bank位宽中的每个字节,每个DIMM有8个DQM信号线,每个信号针对 一个字节。这样,对于4bit位宽芯片,两个芯片共用一个DQM信号线,对于8bit位宽芯片,一个芯片占用一个DQM信号,而对于16bit位宽芯片, 则需要两个DQM引脚。 SDRAM官方规定,在读取时DQM发出两个时钟周期后生效,而在写入时,DQM与写入命令一样是立即成效。 读取时数据掩码操作,DQM在两个周期后生效,突发周期的第二笔数据被取消(上图可点击放大) 写入时数据掩码操作,DQM立即生效,突发周期的第二笔数据被取消(上图可点击放大) 有关内存内部的基本操作就到此结束,其实还有很多内存的操作没有描述,但都不是很重要了,限于篇幅与必要性,我们不在此介绍,有兴趣的读者可以自行查看相关资料。 ================================