标签: 高分子esd

随着电子技术的不断创新，智能家居逐渐走进了千家万户。由于智能家居的使用者都是普通大众，并且南北使用的环境差异大，所以 ESD问题是电子工程师在设计产品时所要考虑的一个重要因素。 本次实验的产品为某个大品牌的智能家居，客户在进行 ESD测试 的时候发现，如果用静电枪的空气放电对着屏幕测试的时候，屏幕很容易出现花屏的现象，但是再进行整机测试的时候，对着整机的 GND进行空气放电的时候，产品不会出现花屏的现象。 通过对实验现象的分析，判断是显示屏本身出现了抗干扰不过的情况。查看其 PCB LAYOUT图，如下图： 从 PCB LAYOUT上可以看到，整改屏的信号走线都很长，信号回路都比较大。如果其中有一条敏感信号，那其暴露在空气放电产生的瞬态磁场中，就容易产生感应电动势（即di/dt)。 整改措施：我们对其 MCU与主板MCU之间的通信信号对地并联 ESD （型号 : ESD5D100TA ） ,再进行空气放电的时候，发现有点提升，但是并不能达到客户的要求。 根据实验现象，处理这种受磁场干扰，我们一般还会用到另外一种 EMI器件---磁珠。很多工程师都会认为，磁珠一般都是用来解决辐射。但是大量的实验证明，磁珠对静电一样起着重要的作用。于是我们在信号网络RS上串联 磁珠 （型号： CVB1005C182T ），并且通过分析，屏上 的有一个固定的金属片，原先的设计是没有接地的，整改的时候将其与 PCB 的GND相连，并且搭接比较好。如下图： 整改后再去测试的时候，发现空气 15KV 打在屏幕上，屏的工作状态没有任何异常。测试通过！ 本文出自： http://www.asim-emc.com ​

一、 接口的概述 USB 通用串行总线是连接外部装置的一个串口汇流排标准，在计算机使用广泛，但也可以在机顶盒和游戏机上使其能够在便捷装置之间直接交换资料。 USB 接口的 EMC 性能关系到设备的稳定性和数据传输的准确性。 二、整改设计 当 USB 接口中带有电源信号，对电源信号需要进行滤波处理。电源线上串联一个 ASIM 磁珠（型号 CVB1608E601T ）以及并联 ASIM 高分子 ESD （型号： CV0402VT6201T ），还可以根据需要在电源线上并联一个高频滤波电容； USB 差分线上串联一个 ASIM 共模滤波器 （型号： CMF1210DH900MFR ），共模滤波器的选择主要是考虑其上的差模寄生电感对高速 USB 信号的影响。如果寄生差模电感太大，就会对 USB 信号产生衰减，影响 USB 接口的工作性能。 由于 USB 接口具有可热插拔性， USB 接口很容易因人为因素而导致静电损坏器件，比如死机、复位等。所以要在 USB 接口的电源线并联 ASIM ESD （型号： CV0402VT6201T ）；两条数据传输线、 ID 线上并联 ASIM ESD 器件（型号： CV0402VT6030T ）并且另一端接地。 USB 接口的底线端串联一个 ASIM 磁珠（型号 CVB1608E601T ）。要注意高速数据线的静电保护器件选型。 如图： 图一 三、整改案例 整改前的辐射数据： 图二 可见该器件的的 480MHZ 、 645MHZ 、 675MHZ 、 720MHZ 、 747MHZ 均不符合 FCC Class B 的要求，按照图一设计整改后再测的数据： 图三 器件实物图： 图四