标签: ESD器件

一、 ESD放电分析： 在 ESD放电 的过程中，会产生瞬间的高电压，大电流和宽带的电磁干扰，以至于电子组件失效、损坏、降低可靠度，大至电子系统设备误动作、损毁，甚至会酿成重大灾难。 二、 整改前实验现象： 此次实验对象是一款多功能蓝牙音箱，其有 AUX、蓝牙、USB、TF卡等模式。在蓝牙模式充电的情况下，设备在进行空气±8KV放电的时候，机器会出现断蓝牙，复位的现象。 三、 整改过程： 由于对音箱进行接触放电的时候，发现音箱不会出现类似现象；于是先将 PCB板的地定义为完整地；只要将静电导到地上就行；所以第一步措施为：将AUX信号线上串上磁珠（ASIM型号： CVB1005C152T )并且对地并联ESD器件（ASIM型号： CV0402VT6201T ),如下图： 其基本原理为： 整改好后，重新对音箱进行空气 ±8KV测试，发现现象有所改善，但是还是没有彻底根除。于是查看PCB原理图，发现机器MCU并没有复位脚。根据实验现象，模拟出现这种现象的状态；最终确认，此状态与将电池插拔一样；于是将目光定与电源上，其中就包括了MCU供电，USB充电口和电池。并且我们发现只有是将USB充电线连接上，才会出现这种现象。所以我们就在MCU VCC上对地并联ESD器件（型号： CV0402VT6201T )并串联磁珠（ASIM型号： CVB1608E152T ),并且在USB充电口对地并联ESD器件（ASIM型号： CV0402VT6201T ),如下图： 再次进行实验，进行空气 ±8KV放电，放电次数为10次，样机无明显异常现象。整改结束！ 四、 整改 心得 ： 从 ESD测试配置描述可以看出，再进行ESD测试时，需要将静电枪的接地线接至参考接地板，EUT放置于参考接地板之上，静电枪放电枪头指向EUT中各种可能会被手触摸到的部位或水平耦合板和垂直耦合板，这就决定了ESD测试是一种以共模为主的抗扰度测试，因为ESD电流最终总要流向参考接地板。 从静电放电波形分析，其上升沿时间为 0.7ns到1ns，根据傅里叶变换可知其频谱宽度能达到300MHZ。ESD器件的响应时间一般为PS级别，所以用ESD器件去防护静电是一种有效的措施。 从静电的脉冲宽度看出，静电的脉冲持续时间很短，其能量比浪涌小很多，所以绝大多数的小功率的 ESD器件足以满足对其的泄放。 ESD器件其主要是并联在线路上，当静电事件发生的时候，ESD器件能够瞬间导通，给静电提供一条低阻抗的回路。这里需要注意几点： 一、 ESD器件的泄放地一定要完整，完整地的定义为长宽比小于3的（没有缝隙、没有开孔）二、ESD器件必须要放在信号线的主路上，不能放在支路上，不然会使得ESD器件的效果大大降低。 三、如果 ESD器件是放在高速信号上，一定要考虑ESD结电容对信号的影响程度，信号速率越高，对ESD器件的结电容大小要求越低（即信号速率越高，ESD结电容越低）。

一、 接口的概述 USB 通用串行总线是连接外部装置的一个串口汇流排标准，在计算机使用广泛，但也可以在机顶盒和游戏机上使其能够在便捷装置之间直接交换资料。 USB 接口的 EMC 性能关系到设备的稳定性和数据传输的准确性。 二、整改设计 当 USB 接口中带有电源信号，对电源信号需要进行滤波处理。电源线上串联一个 ASIM 磁珠（型号 CVB1608E601T ）以及并联 ASIM 高分子 ESD （型号： CV0402VT6201T ），还可以根据需要在电源线上并联一个高频滤波电容； USB 差分线上串联一个 ASIM 共模滤波器 （型号： CMF1210DH900MFR ），共模滤波器的选择主要是考虑其上的差模寄生电感对高速 USB 信号的影响。如果寄生差模电感太大，就会对 USB 信号产生衰减，影响 USB 接口的工作性能。 由于 USB 接口具有可热插拔性， USB 接口很容易因人为因素而导致静电损坏器件，比如死机、复位等。所以要在 USB 接口的电源线并联 ASIM ESD （型号： CV0402VT6201T ）；两条数据传输线、 ID 线上并联 ASIM ESD 器件（型号： CV0402VT6030T ）并且另一端接地。 USB 接口的底线端串联一个 ASIM 磁珠（型号 CVB1608E601T ）。要注意高速数据线的静电保护器件选型。 如图： 图一 三、整改案例 整改前的辐射数据： 图二 可见该器件的的 480MHZ 、 645MHZ 、 675MHZ 、 720MHZ 、 747MHZ 均不符合 FCC Class B 的要求，按照图一设计整改后再测的数据： 图三 器件实物图： 图四