标签: 测量阻抗

用户会出于各种原因而需要测量器件的阻抗。一个典型的情况是工程师们需要对用在其所设计的电路中的器件的阻抗特性进行测量，因为通常情况下这些器件的供应商只给出了器件阻抗值的额定数据。在某种程度上，在决定产品的最终设计性能，甚至决定制成品的生产时都会与产品所用器件的阻抗值有关，最终产品的性能和质量会受到器件的测量精度以及对器件的测量是否够全面的影响。这份资料提供一些有用的信息来帮助工程师们熟悉自动平衡电桥、IV和RF-IV测试技术的使用。对于使用反射法测量阻抗的技术人员，可以从安捷伦编号为1291-1的应用指南“提高网络分析仪使用能力的8条提示”(文献编号为5965-8166CHCN)中找到类似的信息。安捷伦成功测量阻抗的8点提示应用指南346-4精确测量电子器件,实现电路的设计性能目录首先需要了解的基本知识提示1.阻抗参数的确定和选择测量阻抗有几种不同的技术和LCR表或阻抗分析仪所采用的方法，应该根据测量的频率范围、要测量技术和仪表的类型无关，根据提示2.选择正确的测量条件测量的阻抗参数以及想要显示的测量测量的频率范围，它们可以采用RF-结果来选择一个具体的测试技术。IV、IV或自动平衡电桥技术。提示3.选择适当的仪器显示参数自动平衡电桥技术在从毫欧姆用户会出于各种原因而需要测到兆欧姆很宽的阻抗测量范围内有量器件的阻抗。一个典型的情况是提示4.测量技术具有局限性极高的测量精度，与之相适应的测工程师们需要对用在其所设计的电量频率范围可以从几Hz到110MHz。路中的器件的阻抗特性进行测量，提示5.进行校准……