tag 标签: 辐射发射

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  • 热度 2
    2024-1-20 10:19
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    空气波压力治疗仪主体由气泵,电磁阀构成充气放气控制,连接管路到相应气囊,对气囊充气、保持压力、放气。实现治疗功能。而供电电源,控制器及电池也是必不可少的。新一代的空气波压力治疗仪替换了电源模块,将原来的输入滤波器及各种磁环都去除了。 进行辐射发射实验时发现,整体辐射水平较高,在 100~200M 范围峰值超标。进行准峰值测试时,有概率会超标或富余量很小。 改为使用内部电池供电测试,扫描峰值会略低。拔下机器上配的急停开关测试,扫描也会峰值降低,但测试准峰值时与不改时一致。反复扫描时发现,当气泵停转时,辐射水平会降到最低,而气泵运行到最高压力时,辐射水平最高。说明供电线路的负载变化,辐射水平会跟着变化。 检查电路板设计发现供电线路比较长,且裸露在电路板底层。返回地回路部分处于断开状态。电磁阀驱动部分的线路也不短。 从 AC-DC 电源的直流输出到电路板的引线也有 300mm 长。以线路的尺寸,粗略计算发现其长度大致对应 150Mhz~200Mhz 频率。判断是这些线路上有快速变化的电流形成天线往外辐射。 常规的解决办法是在线路上套磁环,吸收这些高频的干扰。实际尝试时,发现装磁环并没有效果。认为是使用的磁环的特性没有匹配好。尝试在线路上加电容吸收这些电流。理论上电容值越大,效果越好。但需要考虑频率特性。选择 C0G 电容,能选择的最大容值为 220pF ,其频率特性如下: 在 200Mhz 频率以下整体表现为电容。整改时在线路上间隔 40mm 对地焊接一个电容。 对比前后的测试结果发现,辐射水平有大约 10db 的改善。 如果使用 3 端电容, 依频率特性可以选择最大容值为 2200pF ,容值比普通电容大 10 倍,抑制效果可能会更好。 另外电路板的供电线路可以尝试放到内电层,做内电分割,预计也能起到良好的抑制作用。 相似的机器使用同样的整改方法。如果天线水平极化,转台处于某个特殊位置时,整改后的效果仍然不佳。只是勉强能通过测试。
  • 热度 21
    2013-10-11 23:04
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          体外诊断设备(IVD)类仪器电磁兼容适用《GB/T 18268.26测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求 第26部分:特殊要求 体外诊断(IVD)医疗设备》,其中1组A类设备辐射发射(RE)项限值:30-230MHz段位40dB(uV/m),230-10000MHz段为47dB(uV/m).下面为某仪器测试中思路和整改措施: 电路图设计和 layout 磁珠 不同性质地间连接(模拟地、数字地和壳地)和板卡电源入口,磁珠的应用,这方面我们多选用(0.06Ω@ DC, 80Ω@100MHz)规格。这对杂波信号通过电源、地串扰有很好的抑制。 电容 对去耦、滤波、旁路电容的选择。电路中若10MHz左右的工作时钟,则0.1uF瓷片电容,若有20MHz以上的工作时钟,需要0.01uF电容滤波。 时钟 对crystal(晶体,无源晶振)和crystal  oscillator(晶体振荡器,有源晶振)的区别对待。无源晶振外壳没有接地,在通过电磁兼容方面劣于有源晶振。在layout中,要求晶振时钟线尽可能短、两边包地或者下面铺地,尽量避免穿越不同的层,不允许晶振下过其他信号线。对较高频率的晶振或clk时钟要求预留电容、磁珠位,如图示1。 本次辐射发射试验在示波器下发现25.3MHz时钟波形不是规则正弦波型,有不规则小突起,在示波器FFT功能中也发现5次、7次、9次谐波严重,在clk对地增加100pF,可以发现波形的上升时间变缓,谐波减小。 线缆整改 电磁兼容试验要求我们对关键线工艺有所要求,仪器中有LCD信号线缆、USB线、LCD的FFC软排线、网口串口转接扁平线等。一般而言,板卡周围线缆合理布线,使用扎线扣、Ω型线扣等工具固定。随意走线会导致电磁兼容试验结果不稳定。 使用带屏蔽的线缆。线缆接头处的屏蔽网处理我们往往扭成一股(pigtail)压在连接器上,这样将形成点连接。而最佳处理方法为360端接,如图2所示 磁环( soft ferrite cores )。一般有环形和柱形,如图3所示 扁平线和FFC排线的处理。这两种线缆处理方法有加扁平线专用磁夹和包导电铜箔,导电铜箔必须良好接地,否则没有意义。如图4示 其他措施。如电源线和信号线分开布线、线束的双绞措施、避免线缆过长等等对电磁兼容均有较好的作用. 结构方面处理 对仪器而言,为塑料外壳,如果要通过辐射发射(RE)class B等级的话(现有class A在30-230MHz范围为40dB,class B则低10dB),更严厉的措施需要增加:一些关键组件如分析箱外壳和显示屏后盖必须要喷涂导电漆。 其他 一般而言电磁兼容试验的整改,是各项措施累积的结果。有些措施可能是一定改善但是仍然超标,这样情况下,往往不要贸然移除该项措施。 在辐射发射试验中,查找辐射源头,最好借助EMC试验室的近场探头,容易直观地查找到各部件辐射大小。
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    时间: 2022-12-6 01:50
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    高速数字系统的信号完整性和辐射发射.pdf
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    时间: 2019-12-28 21:36
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    上传者: rdg1993
    为适应数字电子系统的发展需要,研究数字电路中△I噪声的特性和抑制△I噪声的技术变得越来越重要.在△I噪声的产生过程及其基本特点的基础上,研究了△I噪声的主要危害.结果表明,△I噪声主要引起数字系统的电源电压波动、电路内部噪声、输出波形畸变和传播延迟、功耗增加、辐射发射等问题.数字电路中△Jlr噪声的危害周胜海,刘百超(信阳师范学院物理与电子工程学院,河南信阳,464000)摘要:为适应数字电子系统的发展需要,研究数字电路中△,噪声的特性和抑制△,噪声的技术变得越来越重要。在△,噪声的产生过程及其基本特点的基础上,研究了△,噪声的主要危害。结果表明,△,噪声主要引起数字系统的电源电压波动、电路内部噪声、输出波形畸变和传播延迟、功耗增加、辐射发射等问题。关键词:△,噪声电源波动地线噪声功耗增加辐射发射随着数字电路向高集成度、高性能、高速度、低工作电压、低功耗等方向发展,数字电路中的△,噪声的特性和抑制△,噪声的技术成为一个亟待系统、深入研究的领域。△,噪声的产生过程及其基本特点表明【l,2】:△,噪声是由数字电路的电路结构和工作过程决定的,恰当的电路设计只能在一定程度上减小(而不可能消除)△,噪声。△,噪声是数字电路固有的。数字电路中不同单元产生的△,噪声会发生叠加,电路的规模越大,叠加出现的可能性越大,造成的电流尖峰脉冲越强;△,噪声是宽图l电源地线上的欧姆电压降减小了噪声容限带噪声源,频谱宽度主要由电路的速度决定,速度越高,频谱范围越宽;△,噪声同时产生传导……