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美国国家标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology，NIST)的研究人员近日通过 测试 发现， 碳纳米管 元件的 可靠性 会是一个大问题。   NIST对金属电极之间众多纳米管导线的测试结果显示，纳米管可承受非常高的电流密度──耐受度是一般半导体电路的数百倍──时间长达数小时，但在持续不断的电流之下，耐受度会逐渐降低。而研究人员表示，当电流升高到一定的 阈值 ，金属电极大概在40个小时内就会失效。   NIST 正在开发一系列量测与测试技术，并研究不同的纳米管结构，专注于探讨纳米管与金属、以及与不同纳米管之间交界处的运作情形。在一个相关的研究中，NIST 研究人员发现纳米管网络的故障发生处，是因为电子自然在纳米管之间跳跃。研究人员指出，这种故障状况似乎是会发生在纳米管之间电阻最高点。   藉由监测初始电阻(starting resistance)以及材料劣化的初始阶段，研究人员就能预测电阻是否会逐渐降低──因此可预设其运作极限(operational limits)；而若是以零星、不可预测的方式变动，这就会对元件的性能产生负面影响。   由 NIST所开发的电气应力测试(electrical stress test)，是将初始电阻与劣化率(degradation rate)相连，以预测故障与元件整体生命周期。这种测试能应用于筛选最合适的制造技术，以及判别纳米管网络的可靠性。研究人员预测，纳米管网络将会在 柔性显示器 、太阳光电等领域发挥很大的应用效益。   《电子工程专辑》网站版权所有，谢绝转载   原文链接： http://www.eet-china.com/ART_8800649521_480401_NT_d844fb4a.HTM