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  节选自《电容式触控技术导入及解析》 3.2 ITO Layout 规则     ITO Layout 规则对模块的最终的触控表现有着非常重要的影响，现在就以PIXCIR的投射式电容触控芯片为例，简单阐述ITO 布线的设计规则及注意事项。 3.2.1 扫描线匹配（无铺地） 在没有铺地的情况下，需要增加虚拟的扫描线保持相邻走线之间的环境匹配性 。   图 3-13 铺地修改前   图 3-14 铺地修改后 在一些ITO图纸的设计当中会出现一些由于结构等原因导致的扫描线匹配性较差的现象，这样的现象会导致扫描线之间的耦合电容失衡的现象，因此，我们需要通过增加一些虚拟的扫描线来解决这种现象，从而改善调试效果。 3.2.2 扫描线匹配（有铺地） 在有铺地的情况下，尽量保持扫描线之间的等长走线，并且在扫描线下方不要铺地，而在数字信号下方铺地。                               图 3-15 有铺地时的ITO走线示意图 如图3-15所示，等长走线可以尽可能的减小信号的传播延迟，这样能够更好的处理扫描线之间的匹配性的问题。 3.2.3 单边走线 ITO线最好能从一边走线，即单边走线；并且走线时尽量保持蛇形走线。                                图 3-16 单边走线示意图 如图3-16所示，单边走线能够更好的解决扫描线之间的匹配性问题，减小Mismatch,从而更加有利于后续的调试。 3.2.4 双面走线 如果ITO是双面走线，要保持与TFT的最大程度上的匹配，屏蔽掉TFT的噪声和干扰。   图 3-17 双面走线示意图 如图3-17所示，触控ITO模块的最大干扰源之一就来自于LCD模块，在设计的初始阶段把这方面的问题考虑进去，将会较好的解决掉整个模块的干扰问题。