标签: 霍尔效应实验目的

霍尔效应是电磁效应的一种，霍尔系数和电导率的测量已成为研究半导体材料的主要方法之一。霍尔效应实验是指为了解霍尔效应测量磁场原理而进行的实验。 实验的目的主要有： 1 ． 通过实验掌握霍尔效应基本原理，了解霍尔元件的基本结构； 2 ． 学会测量半导体材料的霍尔系数、电导率、迁移率等参数的实验方法和技术； 3 ． 学会用“对称测量法”消除副效应所产生的系统误差的实验方法。 4 ． 学习利用霍尔效应测量磁感应强度及磁场分布。 仪器与装置：霍尔效应实验仪 霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料 的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必 * 的工具。该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪 , 在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和 知名 度。仪器轻巧方便，易于携带 。 可测试材料 : 半导体材料： SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和铁氧体材料 ， 低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、 TMR 材料 ， 高阻抗材料：半绝缘的 GaAs, GaN, CdTe 等 。