霍尔效应是 电磁效应 的一种,这一现象是美国物理学家 霍尔 ( E.H.Hall , 1855—1938 )于 1879 年在研究金属的 导电 机制时发现的。当电流垂直于外磁场通过 半导体 时, 载流子 发生偏转,垂直于电流和磁场的方向会产生一附加电场,从而在半导体的两端产生 电势差 ,这一现象就是霍尔效应,这个电势差也被称为霍尔电势差。 霍尔效应以及后续发现的自旋霍尔效应、量子霍尔效应、量子反常霍尔效应等具有极高的应用前景。霍尔效应的研究是我们研究材料的载流子浓度、迁移率等基础物理性质的重要手段。 霍尔效应测试系统一般由电磁铁平台、测试系统以及各类测试附件和软件组成,如果增加液氮恒温器或者闭循环低温恒温器,也可以进行低温下的霍尔效应测试。测试方法一般有范德堡法和 HallBar 法,根据材料的种类(金属、半导体、绝缘体)不同,所选的测试仪表种类也有所不同,这主要是由于不同的测试仪表,其测量范围有所不同。电磁铁大小、仪表种类、是否需要低温等关系着整个系统价格的高低。