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地址：http://j.map.baidu.com/mJ7DT 公司现有元器件老化检测设备30多台、套，具备元器件老化检测筛选、核级/非核级设备鉴定能力，具有核电厂一类供应商资质，可以为社会提供安全、可靠的检测、鉴定服务。现北京分院成立核安全电气设备鉴定检测中心，通过CNAS和DILAC资质认可。欢迎社会各界企事业单位、个人前来洽谈，本公司将为您提供优质的服务。 联系人：颜先生     电话13311258936 集成电路高温动态老化系统 ELEA－V 绝缘耐压测试仪 GW GPI－745A 温度冲击箱 VT7012 S3 激光雕刻机 YLP-F10   高低温潮湿试验箱 C7-340   多功能综合老化系统   半导体参数分析仪B1500A   LCR测试仪Agilent-E4980A   电容器高温反偏老化系 DEVC－V

  中文名称：温度冲击试验箱 英文名称：Thermal Shock test chamber 规格型号：VT7012 S3 仪器别名： 生产厂商：德国富奇 厂商国别：德国 所在省市：北京市 所在单位：中科华 联系人：颜先生     电话：13311258936   主要用途： 应用行业： 主要技术指标：单箱容积：120L 热 区：范围：+50℃～+220℃ 速率：9K/min 中 温 区：范围：-10 ℃ to +90 ℃, 速率：加热2K/min，制冷6K/min 冷 区： 范围：-70℃～+70℃ 速率：加热2K/min，制冷4K/min 低温仓、高温仓转换时间小于5s。 温度波动:±1K 空间差异性:±1Kto±2K 功能和应用范围：三箱式结构设计，移动提篮由气压控制自动升降，无需人工转换。高温仓→低温仓、低温仓→高温仓转换时间小于5s（可调）。 三种试验运行模式，保证试验时间可靠、有效。 通过计量认证：是 通过实验室认可：是 检测样品： 检测项目：系统可以对元器件、板件、集成设备提供高温试验、低温试验、湿热试验、温度循环试验。

  中文名称： 半导体参数分析仪 英文名称：Semiconductor parameter analyzer 规格型号： B1500A 仪器分类： 电子测量仪器-通用电子测量仪器-图示仪 生产厂商： Agilent 厂商国别： 美国 检定情况： 已进行计量认证 所在省市： 北京市 所在单位： 中科华 主要用途： 商用 应用行业： 主要技术指标： 输出范围: 分辨率: •电压:±200VDC MAX •电流:10fA （MAX: 1fA） •电流:±1ADC MAX •电压:0.5μV 功能和应用范围： 仪器具有灵活准确的电流电压（I-V）和电容电压（C-V）测量功能。 系统可以对 二、三极管，CMOS集成电路、TTL集成电路、光耦合器件提供测试。 通过计量认证： 是 通过实验室认可： 是 检测样品： 检测项目： 系统可以对 二、三极管，CMOS集成电路、TTL集成电路、光耦合器件提供测试