标签: gan、sic

轻松支持当今具有挑战性的应用： n   功率半导体 、 HBLED 和光器件特性分析和测试 n   GaN 、 SIC 及其他复合材料和器件的特性分析 n   半导体结温特性分析 n   高速、高精度数字化 n   电迁移研究 n   大电流、大功率器件测试   1.         每种测量模式下使用两个 A/D 转换器 ( 一个用于电流，另一个用于电压 ) ，可同时运行用于准确源读回，不会影响测试效率。 当用于一个系统时，全部 2600A 系列的通道以 500ns 同步，实现真正的 SMU-per-pin 测试，主机不存在功率或通道限制。   2.         将热效应降至最小，准确特性分析半导体结温效应 n   准确源出和测量短至 100 μ s 的脉冲，并且脉冲从 100 μ s 至直流、上升时间从 25 μ s 、占空比从 1% 至 100% 可编程。 n   捕获快速变化现象，速率达 1,000,000 读数 / 秒，连续 1 μ s/ 点采样。   3.         提高试验可靠性和可重复性 精密定时和严格的通道同步对当今的测试要求至关重要。 2651A 型具有一款高性能触发型号，精确控制每一源测量步骤的定时。它还严格同步通道之间和 / 或其他 2600A 系列仪器之间的工作，采用 TSP-Link ，硬件速度 500ns 。更重要的是， SMU-per-pin 测试防止测量和负载信号失真。这些功能可帮助您提高吞吐量，降低可能损坏 DUT 的影响，并获得高准确度和可复现的测量结果。   4.         快速、简便地执行 I-V 测试 无需编程或安装， TSP ® Express 软件工具即执行常见的 I-V 测试。嵌入式测试脚本处理器 (TSP ® ) 使用户能够创建仪器可直接运行的脚本，进一步提高测试自动化。   该 TSP Express 测量屏幕所示为利用两台 2651A 单元并联获得 100A 脉冲能力。能够以图形或表格格式查看结果，然后导出至 .csv 格式文件，可用于电子表格软件。 从基本测试到高级测试，利用 TSP Express 都能快速、简便的配置。  

轻松支持当今具有挑战性的应用： n   功率半导体 、 HBLED 和光器件特性分析和测试 n   GaN 、 SIC 及其他复合材料和器件的特性分析 n   半导体结温特性分析 n   高速、高精度数字化 n   电迁移研究 n   大电流、大功率器件测试       1.      每种测量模式下使用两个 A/D 转换器 ( 一个用于电流，另一个用于电压 ) ，可同时运行用于准确源读回，不会影响测试效率。 当用于一个系统时，全部 2600A 系列的通道以 500ns 同步，实现真正的 SMU-per-pin 测试，主机不存在功率或通道限制。   2.         将热效应降至最小，准确特性分析半导体结温效应 n   准确源出和测量短至 100 μ s 的脉冲，并且脉冲从 100 μ s 至直流、上升时间从 25 μ s 、占空比从 1% 至 100% 可编程。 n   捕获快速变化现象，速率达 1,000,000 读数 / 秒，连续 1 μ s/ 点采样。   3.         提高试验可靠性和可重复性 精密定时和严格的通道同步对当今的测试要求至关重要。 2651A 型具有一款高性能触发型号，精确控制每一源测量步骤的定时。它还严格同步通道之间和 / 或其他 2600A 系列仪器之间的工作，采用 TSP-Link ，硬件速度 500ns 。更重要的是， SMU-per-pin 测试防止测量和负载信号失真。这些功能可帮助您提高吞吐量，降低可能损坏 DUT 的影响，并获得高准确度和可复现的测量结果。   4.         快速、简便地执行 I-V 测试 无需编程或安装， TSP ® Express 软件工具即执行常见的 I-V 测试。嵌入式测试脚本处理器 (TSP ® ) 使用户能够创建仪器可直接运行的脚本，进一步提高测试自动化。   该 TSP Express 测量屏幕所示为利用两台 2651A 单元并联获得 100A 脉冲能力。能够以图形或表格格式查看结果，然后导出至 .csv 格式文件，可用于电子表格软件。 从基本测试到高级测试，利用 TSP Express 都能快速、简便的配置。