标签: 脉冲iv

之前，与大家聊了那么多关于脉冲IV测试的内容；今天，为大家总结了进行脉冲IV测试的几点注意事项：（好好收藏，一生享用！） 1、确认连接：在连接到设备之后，执行任何脉冲测试前，使用 scope-shot 进行第一次测试以确认到 DUT 的连接是正确的。 2、改变任何设置（新的探针针尖、设备及电缆更换等）都需要进行校准。 3、可以通过测试没有任何自加热或电荷捕获效应的设备并比较直流和脉冲结果来验证 脉冲 IV 性能是否适当。 4、在大的 漏极电流 （500uA）下使用5个平均，在漏极电流500uA时使用25个平均（或更高）。 5、与典型直流结果相比，脉冲IV测量分辨率和灵敏度较低，因此获得粗略等效的结果需要改变一些测试参数（如采用平均或更小的步长）或后处理流程（如曲线拟合）等。   了解更多信息  了解有关4200-SCS半导体参数分析仪的更多信息，可点击http://www.keithley.com.cn/semi/4200scs，或登录微博http://weibo.com/keithley与专家互动 DUT：http://www.keithley.com.cn/events/proddemos/27xxdemo/demoimages/PD1_DUT.jpg/view 脉冲IV：http://www.keithley.com.cn/semi/4200scs/iv 漏极电流：http://www.keithley.com.cn/semi/4200scs/4200piv

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