tag 标签: 半导体测试

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  • 2025-6-20 13:30
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    技术干货 | DAC静态参数计算全解析:从偏移误差到总未调整误差
    前一章详解了偏移误差、增益误差、INL/DNL、转换时间等DAC术语。 【前文回顾】 技术干货 | 从偏移误差到电源抑制比,DAC核心术语全解析-面包板社区 本章将继续介绍DAC静态参数计算。D/A转换器的线性参数计算(INLE、DNLE等)基于设备的输出电压。D/A转换器的输出电压可通过将数字代码应用到设备的输入端来测量。 将讨论以下参数: ● 偏移误差 ● 满量程误差 ● 增益误差 ● 积分非线性误差(INL误差或INLE) ● 差分非线性误差(DNL误差或DNLE) ● 未调整总误差(TUE) DAC示例 为了解释D/A转换器的线性度参数,下图可以将一些DAC设备示例与理想的4位DAC相叠加。该图可显示五种不同的DAC数据: 1)DAC1:只有偏移误差的DAC 2)DAC2:只有增益误差的DAC 3)DAC3:具有单调偏移、增益和线性误差的DAC 4)DAC4:有偏移、增益和线性误差,非单调的DAC 5)随机DAC数据:随机误差。使用“新建DAC数据”按钮新建DAC 联系德思特进入绘图插件 以下是DAC数据展示: (1) 传输图:叠加理想DAC和示例DAC(蓝线)的传输图 (2) 端点叠加:叠加端点线和与端点线(蓝线)相关的DAC误差 (3) 最佳拟合叠加:叠加最佳拟合线和与最佳拟合线相关的DAC误差(蓝线) (4) 端点误差:示例DAC与端点参考线相比的误差(以LSB为单位的误差) (5) 最佳拟合误差:示例DAC与最佳拟合参考线相比的误差(误差以LSB为单位) (6) 差分误差:示例DAC每一步的误差(以LSB为单位) (7) 未调整总误差:示例DAC与理想线相比的误差(以LSB为单位) 差分误差(6)显示了每一步的误差。 在前三个示例中,Y轴显示(DAC输出)电压或LSB,X轴显示(DAC输入)代码。在其他4种情况下,Y轴显示的是以LSB为单位的误差。 参数计算 1、终点和最佳拟合线 与ADC误差参数计算类似,参数计算也需要参考线。同样使用参考线:端点线和最佳拟合线。 端点线是第一输出电压和最后输出电压之间的一条直线。因此,在计算参考线时只使用测量到的第一个和最后一个电压。端点误差图的第一个和最后一个电压始终为零。 最佳拟合线计算使用所有电压。这里也使用了最小二乘线性回归算法。为完整起见,再次给出最佳拟合线方程(y=ax+b): 其中:a=斜坡;b=偏移量;N=数据点数;x=x值;y=y值。 2、偏移误差 当数字输入代码(大部分为0或半刻度)设置为理想输出电压0V时的输出电压(终点计算)。对于最佳拟合线计算,偏移误差是最佳拟合参考线与理想传输线之间的偏移。 3、满量程误差 满量程误差是满量程输出电压(最大输入代码)与理想满量程输出电压(端点满量程误差)之间的误差。它等于增益误差和偏移误差之和。 4、增益误差 增益误差等于满量程误差减去偏移误差。它是(端点或最佳拟合参考线)相对于传输特性理想斜率的偏差。斜率可从参考线方程y=ax+b中的“a”得出。增益误差可通过公式(a−1)(N−1)计算,其中N为转换器的步数。 5、积分非线性误差(INL/INLE) 积分非线性误差描述的是对参考线的偏离。参考线可以是端点线或最佳拟合线。它是对传递函数直线度的测量,可能大于差分非线性误差。DNL误差的大小和分布将决定转换器的积分线性度。INL误差的计算公式如下: 其中,V(x)是输入代码x时的输出电压,Vzs是基准线的零刻度电压。ALSB是实际(或测量)的LSB步长。实际LSB步长由ILSB/a计算得出,其中ILSB是理想LSB步长,“a”是参考线的角度(y=ax+b的“a”)。 INL是静态指标,与THD(动态指标)相关。不过,失真性能无法通过INL规格来预测,只能说当INL偏离零时,THD会趋于恶化。 6、差分非线性误差(DNL/DNLE) 1LSB步长的最大偏差。对于理想的DAC,相邻两个数字代码对应的输出电压正好相差1LSB。计算DNL的1LSB步长基于测量(或实际)的LSB步长。实际1LSB步长是理想LSB乘以“a”(ILSBxa),其中“a”是参考线的角度(y=ax+b的“a”)。实际上,实际1LSB(1xa)与理想1LSB步长之间的差别非常小。DNL的计算公式如下: 其中,ALSB是实际的1LSB步长。Vx是输入代码x时的输出电压,V(x-1)是输入代码x-1时的输出电压。 DNLE小于-1LSB将导致非单调传递函数。DAC4在代码7处的输出电压降低。在差分误差表(6)中,可以发现误差为2.12LSB。 TS-ATX7006 7、总未调整误差(TUE) 总未调整误差是一种包括线性误差、增益误差和偏移误差的规格。它是理想器件性能的最坏偏差。TUE的计算公式如下: 其中 Vx是输入代码为 x 时的输出电压。Vzs是(理想)DAC的零刻度电压(通常为0V)。ILSB 是理想的最低有效位(LSB)步长。 选择“总未调整误差显示(7)”来查看总未调整误差(TUE)。实际上,传输特性显示(1)中的蓝色线也是一种总未调整显示。 ​
  • 热度 6
    2025-5-30 11:12
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    技术干货|德思特ADC/DAC静态参数分析系列(一)——什么是ADC转换点?
    ​ 在现代电子系统设计与高速通信、信号处理、雷达探测、医疗成像以及各种工业自动化应用中,模数转换器(ADC)和数模转换器(DAC)扮演着至关重要的角色。ADC负责将模拟信号精确且高效地转换为数字信号,以便于进行数字信号处理和数据传输;而DAC则执行相反的功能,它将数字数据流还原为高质量的模拟信号,以供实际设备或系统使用。 随着技术的不断进步,尤其是对于5G通信、航空航天及国防等领域的严苛要求,高速、高精度、高分辨率以及大动态范围的ADC和DAC变得越来越重要。为了深入探究这些关键器件的基础性能指标,德思特将引领您走进ADC和DAC的静态参数测试世界。本篇文章将为您介绍ADC中的一个关键概念——转换点。 一、介绍 A/D转换器的线性参数计算(INLE、DNLE等)基于器件的转变点(或跳变点)。为了确定ADC的转变点,应将具有足够步长的模拟斜坡表征器件的吸纳后输入。根据测量的代码可以确定转变点。 德思特ADC测试系统TS-ATX7006和软件TS-ATView7006有两种确定跳变点的方法: ● 跳变点搜索方法:算法“搜索”跳变点。考虑测量代码在结果数组中的位置。 ● 代码排序方法:代码在结果数组中出现的次数是LSB步长的度量。 (一)跳变点搜索法 搜索从代码x到代码x+1(x - x+1)的跳变点,首先搜索数据数组中代码x的第一次出现以及数据数组中代码x+1的最后一次出现,这就是跳变点的搜索数组。 代码x和小于代码x的出现次数均计入该区域。跳变点位于首次找到代码x加上该计数器值(在该区域中找到代码x及更少代码的次数)的位置。 开始和结束时丢失的代码将通过理想的转换器步骤 (DNLE=0) 进行推断,并以第一个找到的跳变点作为参考。最后,跳变点是从最后找到的跳变点推断出来的。所有其他缺失代码都会导致 DNLE为-1:跳变点位于与其前一个跳变点相同的位置。 噪声或测量分辨率不足可能导致DNLE小于1 LSB。 举 例说明 1、无噪声 捕获的数字数据阵列: 跳变点0→1: 搜索区域:位置0-11。 计数:6 跳变点位于位置5至6。跳变点电压为: Vtrp=Vstart+count*Vstep-1/2Vstep 其中: Vstart=提供的斜坡的起始电压。 startposition=首次找到代码的位置,此处为位置0。 count=找到代码0的次数 Vstep=提供的斜坡的电压步长。 2、 带有噪声 捕获的数字数据阵列: 跳变点0→1: 搜索区域:位置0-11。 计数:5 跳变点位于位置4至5。 跳变点1→2: 搜索区域:位置3-14。 计数:8(6次代码1+2次代码0) 跳变点位于位置10至11。 3、丢失代码 捕获的数字数据阵列: 跳变点0→1和0→2: 搜索区域:位置0-11。 计数:5 两个跳变点均位于位置4至5。 (二)排序代码方法 所有代码都在数据数组中排序。排序后,数据数组从所有测量代码0开始,然后是代码1,依此类推。因此,测量数据中代码的位置不相关。使用排序代码方法不会发生小于-1的DNL错误。 示例 排序前捕获的数字数据数组: 排序后捕获的数字数据数组: ​
  • 热度 1
    2025-4-28 11:45
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    探针台的维护直接影响其测试精度与使用寿命,需结合日常清洁、环境控制、定期校准等多维度操作,具体方法如下: 一、日常清洁与保养 1.‌表面清洁‌ l使用无尘布或软布擦拭探针台表面,避免残留清洁剂或硬物划伤精密部件。 l探针头清洁需用非腐蚀性溶剂(如异丙醇)擦拭,检查是否弯曲或损坏。 2.‌光部件维护‌ l镜头、观察窗等光学部件用镜头纸蘸取wu水jiu精从中心向外轻擦,操作时远离火源并保持通风。 3.‌内部防尘‌ l使用后及时吹扫灰尘,防止污染物进入机械滑轨、电学接触面等精密结构。 二、环境控制 1.‌防震与温湿度‌ l探针台需置于防震平台或减震垫上,避免环境震动干扰测试精度。 l存放环境温度保持在5-40℃、湿度40-85%,避免高温、潮湿或阳光直射。 2.‌静电防护‌ l定期用抗静电布或喷雾清理台面,减少静电积累对敏感器件的损害。 三、定期检查与校准 1.‌机械部件检查‌ l检查滑轨、齿轮、微动装置是否运行顺畅,有无异常噪音或阻力,紧固件是否松动。 2.‌电气连接检查‌ l验证电缆、插头、接触点是否磨损或腐蚀,确保信号传输稳定性。 3.‌校准操作‌ l按设备说明书要求定期校准,校准前需che底清洁探针台并确保测试环境稳定。 四、运输与存放规范 1.‌运输保护‌ l使用专用包装箱运输,避免碰撞探针台运动部件,运输前拔除电源线。 2.‌chang期存放‌ l切断电源并拔除插头,存放于防震工作台,避免倾斜或横倒。 五、特殊操作规范(真空探针台) 1.‌真空系统维护‌ l检查真空泵与密封件状态,使用硅油传递热量时需定期检查泄漏情况。 2.‌操作后处理‌ l实验结束后关闭设备并清洁表面,记录关键参数(如真空度)变化趋势。 六、**注意事项 l ‌电源管理‌:chang期不使用时拔除电源线,防止短路或电击风险。 l‌操作规范‌:严格按照手册设置参数,避免误操作导致设备损坏或数据误差。 通过上述维护措施,可显著延长探针台寿命(如平面电机定子防锈处理可提升步进精度30%以上),并保障测试数据的准确性与重复性。
  • 2025-4-28 11:12
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    探针台探针与样品的接触方式根据应用场景及设备类型的不同,主要可分为以下几种形式: 一、机械定位接触式 1.‌手动定位调整‌ 通过X/Y/Z轴旋钮或移动手柄手动调节探针座位置,逐步将探针jian端移动至待测点上方,再通过Z轴下压完成接触。此方式需结合显微镜观察,确保探针与样品表面jing准对齐。 ‌操作示例‌:在显微镜低倍物镜下定位样品后,切换高倍物镜微调待测点位置,再通过探针座三轴微调旋钮实现接触。 2.‌机械臂辅助定位‌ 利用机械手控制探针臂的移动,将探针jian端**定位至半导体器件的Pad或晶圆测试点,通过压板下降建立电气连接。 二、真空吸附固定式 1.‌样品固定与探针配合‌ 样品通过真空卡盘吸附固定,确保测试过程中无位移;探针通过独立模块化设计(如磁吸式底座)灵活调整位置,适配不同形状/尺寸的样品。 ‌典型应用‌:大电流测试中,样品需清洁后置于真空卡盘,开启真空阀确保吸附稳定,再通过探针座微调接触压力。 三、自动化控制接触式 1.‌计算机或程序驱动‌ 射频探针台通过计算机控制探针运动,结合同轴电缆连接测试设备,实现晶圆级射频参数的自动化测量。 gao效场景‌:批量测试时,完成一个器件后升起压板,移动载物台至下一器件重复定位流程。 四、分步微调验证接触 1.‌接触状态确认‌ 探针jian端接近样品后,通过X轴左右滑动观察表面划痕或测试设备反馈信号,验证是否建立有效接触。 ‌**操作‌:需缓慢操作,避免探针压力过大损坏样品或针尖钝化。 五、特殊模式扩展 1.‌多模式兼容设计‌ 部分探针台支持切换真空/气氛环境测试,通过模块化设计快速拆卸探针底座,扩展样品腔空间或切换功能。 总之:探针与样品的接触核心在于‌jing准定位‌与‌稳定控制‌,需结合设备类型(手动/自动)、样品特性(尺寸/材质)及测试需求(电流/射频)选择适配方法。操作中需遵循分步微调、压力验证等规范,以保障测试精度与设备寿命。
  • 2025-4-28 10:39
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    探针台根据测试需求、操作方式及环境条件可分为多个类别,其核心特点与适用场景如下: 一、按‌测试样品‌分类 1、‌晶圆测试探针台‌ l‌特点‌:支持4寸至12寸晶圆测试,配备高精度移动平台与探针卡,兼容晶圆厂标准化测试流程。 l‌场景‌:晶圆厂量产前的缺陷筛选(CP测试),实验室芯片原型验证。 2、‌LED测试探针台‌ l‌特点‌:集成光学检测模块,可同步测试电学参数(如正向电压)与光学性能(如光强、波长)。 l‌场景‌:LED芯片光效评估、显示面板背光源质量控制。 3、‌功率器件测试探针台‌ l‌特点‌:支持高压(>1000V)、大电流(>100A)测试,配备耐高温探针与散热系统。 l‌场景‌:IGBT、SiC MOSFET等功率半导体器件的动态特性验证。 4、‌纳米器件测试探针台‌ l‌特点‌:纳米级定位精度(±0.1μm),兼容低温(如-196℃)与磁场(如0.5T垂直磁场)环境。 l‌场景‌:二维材料、量子点器件等前沿材料的电学特性研究。 二、按‌应用环境‌分类 1、‌高/低温环境测试探针台‌ l‌特点‌:温度范围覆盖-65℃至+300℃,支持真空环境测试,避免冷凝干扰。 l‌场景‌:汽车电子低温冷启动测试、航天器件高温可靠性验证。 2、‌射频(RF)探针台‌ l‌特点‌:集成RF屏蔽箱与高频探针(40GHz以上),支持S参数、噪声系数等射频指标测试。 l‌场景‌:5G通信模块、毫米波雷达芯片的射频性能验证。 3、‌真空探针台‌ l‌特点‌:全封闭真空腔体设计,消除空气放电干扰,兼容低电流(fA级)测试。 l‌场景‌:MEMS传感器、光电探测器的高精度电学参数测量。 三、按‌操作方式‌分类 1、‌手动探针台‌ l‌特点‌:操作灵活,配置显微镜与手动位移台(行程100mm×100mm),成本低。 l‌场景‌:实验室小批量样品测试、高校科研教学。 2、‌全自动探针台‌ l‌特点‌:机械臂自动定位,支持晶圆级批量测试,效率提升30%以上。 l‌场景‌:晶圆厂量产测试、高复杂度芯片(如CPU)的快速筛选。 四、按‌特殊功能‌分类 1、‌双面点针探针台‌ l‌特点‌:支持芯片正反面同步扎针,减少测试误差。 l‌场景‌:3D封装芯片、TSV(硅通孔)器件的互联性验证。 2、‌热探针台‌ l‌特点‌:内置加热模块,模拟高温工作条件(如+150℃)。 l‌场景‌:功率器件热稳定性测试、封装材料热膨胀系数分析。 探针台的多样性设计(如手动型灵活适配科研需求、全自动型满足量产效率)与专业化扩展能力(如RF/真空/高低温模块),使其可覆盖‌半导体制造、光电器件研发、新能源材料分析‌等全产业链测试需求。选型时需综合测试精度、环境兼容性及成本效益,例如纳米器件研发优先选择低温磁场探针台,而量产场景则需全自动机型提升效率。
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