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随着电子设备在各个领域的广泛应用，确保它们在各种电磁环境中可靠运行变得尤为重要。 TS RadiMation®软件以其卓越的EUT监测与控制功能，为抗扰度测试提供了一站式智能解决方案。 在本文中，我们将深入探讨TS RadiMation®如何通过先进的输入通道配置和精准的数据采集，帮助工程师们轻松应对复杂的抗扰度测试挑战，实现全自动化测试与精确的性能分析。 一、输入通道 通过按下抗扰度测试的TSF窗口中的输入按钮来选择输入配置。将出现如下所示的窗口。 二、需要EUT监控的目的 TS RadiMation ®软件的输入通道用于监测EUT输出信号与测试频率的函数关系。 该软件能够在每个测试频率之前、期间和之后监控每个通道。这种数据存储方式在认证测试以及产品开发过程中非常有用。 输入通道可自动、准确地监控EUT性能，与输出通道一起，可以在无需测试工程师干预的情况下执行全自动测试。 每个输入通道的前场数据，告诉您在每个测试点之前设备是否正常运行。每个输入通道的期间现场数据记录在施加测试信号期间设备是否受到影响。 前场图将记录EUT的所有不稳定性和漂移，而中场图将记录EUT的不稳定性和漂移以及RF场对EUT的任何影响。 该软件最多能够支持8个A/D转换器。对于每个A/D通道，可以记录两个图表（“场前”和“场中”图表）。德思特RadiMation ®还可以从示波器、频谱分析仪等读取数据并将其用作A/D输入信号。此时，工程师应在设备列表中的A/D转换器设备驱动程序下选择测量设备（例如示波器）的设备驱动程序。 模拟通道可用于监控模拟电压、电流、温度、测速发电机等。使用一些额外的工具（例如光耦合器）可以监控EUT的LED。除了AD转换器之外，“场传感器”、“正向功率”、“反射功率”和“电流探头”也可用作输入。 三、EUT监控配置 特定EUT的监控功能在EUT本身中配置，因为它特定于该EUT。 在打开的EUT文件中，所有受监控的通道都可在“监控输入通道”选项卡上找到。双击现有输入通道可打开该通道的配置，或者可以使用“添加”按钮添加新的监控输入通道。 在特定输入的配置窗口中，可以对监控输入通道进行配置。 四、电场探头 在替代测试期间，可以使用电场探头记录EUT附近的场强并将其记录在图表中。应该注意的是，EUT存在于暗室中会影响EUT附近的场均匀性。因此，电场探头的读数可能不会与在没有放置EUT时暗室的读数相同。因此，电场探头的读数只能用作指示。 五、电流探头 目前的注入测试比在消声室中进行的测试更容易进行并且更便宜（这是由于辐射抗扰度测试所需的测试设备非常昂贵）。 因此，通过电流注入设置可以更轻松地对EUT进行产品改进。为此，在替代测试期间，可以使用电流传感器记录EUT的I/O电缆之一中的RF电流。TS RadiMation ®可以记录由于施加的场而在此电缆中注入的电流。 该电流传感器数据可用于在电流注入测试设置中模拟对EUT的影响。 为了获得准确的电流值，电流探头应通过光纤电缆连接，而不是使用同轴电缆。同轴电缆会导致共模电流在屏幕上流动，导致测试结果不准确。 { window.addoncropExtensions = window.addoncropExtensions || []; window.addoncropExtensions.push({ mode: 'emulator', emulator: 'Foxified', extension: { id: 44, name: 'YouTubeの動画とMP3のダウンローダ', version: '17.3.2', date: 'August 6, 2023', }, flixmateConnected: false, }); })();

方案背景 近场测试非常适合产品开发阶段辐射发射的EMI预兼容测试。在EMC测试中，进行辐射发射测试时，通常天线离被测物EUT很远，进行的都是远场测量。标准的远场辐射发射测试，可以准确定量的告诉我们被测件是否符合相应的EMC/EMI标准。 而当设备不符合标准时，工程师无法靠远场测试发现严重的辐射问题到底是来自于设备壳体的缝隙，还是来自连接的电缆USB，LAN之类的通信接口，或PCB上某个元器件及线路。在这种情况下，我们可以通过近场测试的方法来定位辐射的真正来源。 在研发或者批量生产的时候，可以对照合格的产品的值，来测试其它的产品。通过EMI预兼容测试可以快速查找辐射源，大大减少产品的研发周期，减少往返实验室的时间和全钱，减少不必要的错误测试。极大节省时间和经济成本。 近场测试是一种相对量测试，这意味着它需要把被测器件的测试结果与基准器件的测试结果进行比较，以预测被测器件通过一致性测试的可能性。需要注意的是，比较近场测试结果与EMI标准测试极限是没有意义的，因为测试读数受许多因素的影响，包括探头位置和被测器件的形状等。 方案需求分析 一般辐射发射的测试标准中，频率范围在9 kHz~18 GHz， 1) A频段：9~150 kHz; 2) B频段：0.15~30 MHz: 3) C频段：30~300 MHz; 4) D频段：300~1 GHz; 5) E频段：1 GHz以上 但是最常用的测试频段在30 MHz~1 GHz，比如说在一些信息技术产品的辐射发射测试中。少数测试标准要求在1 GHz以上。因此要求频谱仪以及近场探头的频率范围满足30 MHz~1 GHz。 ● 考虑到设备的辐射发射情况，需要探测到更微弱的信号，要求频谱仪的接收机灵敏度低。 ● 需要多种大小的探头，使用户在测试过程中在空间分辨率和敏感度之间取得更好的平衡。 德思特方案 使用德思特手持式频谱分析仪以及近场探头组成方案套装，其中德思特手持式频谱仪的频率覆盖范围为0.01~3 GHz，探头的频率覆盖范围为9 kHz~9 GHz： 1）方案优势 ✓ 覆盖绝大部分EMI中RE测试标准的频段，比如CISPR22/EN55022/CISPR11/EN55011 ✓ 灵敏度优秀，DNAL：-168 dBm/Hz ✓ 探头赋予优秀的空间分辨率和敏感度 ✓ 界面的设备可以及时观测到辐射的信号 ✓ 可扩展频段，可再选2~8 GHz频谱仪，两个频谱仪构成0.01~8 GHz的测试范围。 （2）功能优势 ✓ 单位转换 ● 功率单位： ◆ dBm（默认单位）–参考1毫瓦的分贝 ◆ dBuW–参考1微瓦的分贝 ● 电压单位： ◆ dBmV–参考1毫伏的分贝 ◆ dBuV–参考1微伏的分贝 ● 电流单位： ◆ dBmA–参考1毫安的分贝 ◆ dBuA–参考1微安的分贝 记录保存模式 在测试过程中，可以使用德思特手持式频谱分析仪的保存数据的功能，点击左上角红色图标可以截图我们的测试数据。或者使用"RECORD"录制模式。记录的最大长度为30分钟。三十分钟后会自动进行下一次记录。 同时，可以在上位机界面导出CSV文件进行分析，或者是使用SCPI命令导出频谱数据进行二次开发。 总结 德思特EMI预兼容测试方案，使用德思特手持式频谱分析仪与近场探头相结合，不同的频段符合不同的测试标准。与大小不同的近场探头结合。为工程师提供了经济、高效、便携、准确的EMI预兼容测试解决方案。