tag 标签: 芯片测试

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  • 2025-2-15 09:36
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    探针台是半导体测试领域的重要设备,用于支撑和固定待测芯片,以便进行jing确的电气测试。在使用过程中,探针台可能会出现位置偏移,这时就需要进行复位操作。下面,我们将详细介绍探针台复位的zui简单三个步骤。 一、确定复位基准点 复位操作的di一步是确定复位基准点。通常,探针台会配备有明确的复位标记或感应点。用户需要仔细查找并确认这些标记,确保复位操作的准确性。找到基准点后,将探针台移动到该位置附近,准备进行下一步操作。 二、执行复位动作 在确认基准点后,接下来需要执行复位动作。根据探针台的具体型号和操作指南,用户需要按照正确的顺序和方法进行操作。一般来说,复位动作可能包括旋转、平移或升降等操作,以确保探针台jing确对准复位基准点。在执行复位动作时,用户需保持耐心和细心,避免操作过快或过度用力导致设备损坏。 三、验证复位效果 完成复位动作后,用户需要验证复位效果。这通常涉及使用测量工具(如显微镜、测量尺等)来检查探针台是否已准确复位到基准点。如果发现位置仍有偏差,用户应重新进行复位操作,直到达到满意的效果为止。验证复位效果是确保后续测试准确性和设备稳定性的重要步骤,不容忽视。 通过遵循以上三个简单步骤,用户可以轻松完成探针台的复位操作。这不仅有助于提高测试精度,还能延长设备的使用寿命。在进行复位操作时,请务必参考设备的操作手册和安全指南,以确保操作的安全性和有效性。
  • 热度 1
    2025-2-11 14:25
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    一、可调温探针台简介 可调温探针台是一种能够精准控制温度的科研设备,广泛应用于各种材料、器件和电路的测试与研究中。通过调节探针台的温度,科研人员可以模拟不同环境下的实验条件,从而更深入地了解材料的性能和器件的工作机制。 二、调温原理与功能特点 可调温探针台的调温原理主要依赖于先进的温度控制系统。该系统采用高精度温度传感器和智能控制算法,确保探针台的温度能够快速、准确地达到设定值,并保持稳定。此外,探针台还具备以下功能特点: 1. 宽温度范围:可调温探针台通常支持从极低温度到高温的广泛范围,满足不同实验需求。 2. 高温度稳定性:通过先进的控制系统,探针台能够在长时间内保持稳定的温度,确保实验结果的可靠性。 3. 易于操作:探针台通常配备直观的用户界面和便捷的控制系统,使科研人员能够轻松设置和调整温度。 三、科研实验中的应用 可调温探针台在科研实验中发挥着重要作用。以下是一些典型的应用场景: 1. 材料性能测试:通过调节温度,科研人员可以研究材料在不同温度下的导电性、导热性、磁性等性能变化,为新材料研发提供有力支持。 2. 器件可靠性评估:在高温或低温环境下,器件的性能和寿命可能会受到影响。利用可调温探针台,科研人员可以模拟这些ji端环境,评估器件的可靠性。 3. 电路设计验证:在电路设计和测试过程中,可调温探针台可用于模拟实际工作环境中的温度变化,帮助科研人员验证电路设计的合理性和稳定性。
  • 热度 2
    2024-10-28 11:23
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    探针台系统分为手动探针台与自动探针台,以下我们主要分析手动探针台。 探针台用途: 手动探针台又称探针测试台主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对芯片进行科研分析,抽查测试等用途 探针台系统组成: 探针台台体+显微镜+探针座+探针夹具+探针+测试源表(请注意无测试源表就构成不了系统,探针台只是提供一个测试平台,一切数据的测量都需要依靠测试源表来完成) 探针台测试环境: 可提供的测试环境有:常温、高温、高低温测试、真空高低温、高压、辐射以及磁场环境。
  • 热度 3
    2024-10-25 10:46
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    探针台将晶圆或芯片固定在安装在平台上的卡盘上,该平台允许将DUT定位在显微镜视野的中心。 机械手放置在平台的平面上,并在机械手中插入探针臂和jian端。探头jian端必须适合要执行的测试程序。然后,用户通过调整相应的操纵器将探针jian端精确定位在设备内的正确位置。然后通过降低压板使探针与晶片接触;现在可以测试该设备。对于具有多个器件的晶圆,在测试第一个器件后,可以升起压板并将支撑晶圆的平台移动到下一个器件。重复定位探针jian端的过程,直到测试完所有必需的设备。这个过程都可以由操作员手动完成,但如果载物台和机械手是电动的,并且显微镜连接到计算机视觉系统,那么这个过程可以变成半自动或全自动。这可以提高探针台的生产力和吞吐量,并减少运行多个测试所需的劳动力。
  • 热度 1
    2024-10-21 16:37
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    探针台将晶圆或芯片固定在安装在平台上的卡盘上,该平台允许将DUT定位在显微镜视野的中心。 机械手放置在平台的平面上,并在机械手中插入探针臂和尖端。探头尖端必须适合要执行的测试程序。然后,用户通过调整相应的操纵器将探针尖端精确定位在设备内的正确位置。然后通过降低压板使探针与晶片接触;现在可以测试该设备。对于具有多个器件的晶圆,在测试第一个器件后,可以升起压板并将支撑晶圆的平台移动到下一个器件。重复定位探针尖端的过程,直到测试完所有必需的设备。这个过程都可以由操作员手动完成,但如果载物台和机械手是电动的,并且显微镜连接到计算机视觉系统,那么这个过程可以变成半自动或全自动。这可以提高探针台的生产力和吞吐量,并减少运行多个测试所需的劳动力。 ​
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