tag 标签: 仪器

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  • 2025-5-8 11:12
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    磁场测量仪器的精度评估需综合多个技术指标和操作规范,具体方法如下: 一、精度指标的量化分析 1、‌精密度‌ 通过多次重复测量同一磁场,计算测得值的标准差或相对偏差,表征随机误差水平。例如高斯计的重复测量结果一致性需满足实验标准差要求。 2、‌正确度‌ 将测量结果与标准磁场源(如已知磁场强度的校准磁体)对比,评估系统误差。校准后的高斯计与标准磁场源的偏差应小于标称误差范围。 3、‌综合jing确度‌ 结合精密度和正确度,通过合成不确定度计算整体误差范围。例如实验室级磁通计的jing确度需标注为“量程±(0.5%读数+2位小数)”等形式。 二、校准与验证流程 1、‌标准磁场校准‌ 使用内置校准功能或外部标准磁体(如钕铁硼参考磁铁)对仪器进行零点校准和量程校准,确保霍尔探头灵敏度符合要求。 2、‌环境干扰控制‌ 在无电磁干扰、恒温条件下验证仪器稳定性,避免温度漂移和外部磁场对积分器零点的影响。 3、‌探头操作规范‌ 霍尔探头需与被测面垂直接触且避免过度施压,双面感应探头需明确标尺面与非标尺面的测量极性差异。 三、应用场景适配性验证 1、‌量程匹配性测试‌ 选择量程覆盖被测磁场强度1.5倍以上的设备,例如测量1 T磁场时需选用至少1.5 T量程的磁通门磁强计。 2、‌分辨率验证‌ 在科研场景中,需确保仪器分辨率达到0.1 mT级;工业检测场景可放宽至1 mT级。 3、‌动态响应测试‌ 对交变磁场测量设备(如磁光效应仪表),需验证其频率响应特性是否匹配工频或高频需求。 四、chang期稳定性评估 1、‌零点漂移检测‌ 磁通计需在通电预热后连续运行8小时,积分漂移量应小于满量程的0.1%4。 2、‌抗干扰能力测试‌ 通过引入可控电磁干扰源,验证高斯计读数波动是否在允许范围内。 五、典型案例参考 l‌工业磁钢检测‌:使用0.5级精度的便携式高斯计,允许±2%的测量误差。 l‌科研级测量‌:质子旋进磁力仪需达到0.01 nT级分辨率,并通过NIST可溯源校准。 通过上述多维度评估,可quan面判断磁场测量仪器是否满足特定场景的精度要求。
  • 2025-5-6 11:36
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    ‌一、高斯计的正确选择‌ 1、 ‌明确测量需求‌ ‌磁场类型‌:区分直流或交流磁场,选择对应仪器(如交流高斯计需支持交变磁场测量)。 ‌量程范围‌:根据被测磁场强度选择覆盖范围,例如地球磁场(0.3–0.5 G)或工业磁体(数百至数千高斯)。 ‌精度与分辨率‌:高精度场景(如科研)需选择误差低于1%的仪器,分辨率需匹配微小磁场变化检测需求。 2、 ‌仪器类型选择‌ ‌手持式‌:便携性强,适合现场快速检测;‌台式‌:精度更高,适用于实验室或工业环境。 ‌探头类型‌: ‌横向/轴向探头‌:根据磁场方向选择,轴向探头适合测量垂直于探头轴的磁场。 ‌探头尺寸‌:小尺寸探头适合气隙或狭窄空间测量。 3、 ‌功能与供电方式‌ ‌附加功能‌:如极性判断、zui大值锁定、报警功能等,工业场景可选择支持分选功能的型号。 ‌供电方式‌:便携式(电池供电)适合户外,台式(交流电)适合chang期稳定使用。 ‌二、高斯计的正确使用‌ 1、 ‌准备工作‌ ‌校准与调零‌:开机后需在无磁场环境中调零,定期校准仪器以减少误差。 ‌环境控制‌:避免强电磁干扰,确保测量环境稳定。 2、 ‌操作步骤‌ ‌量程选择‌:根据预估磁场强度选择合适的档位,避免超量程导致的读数偏差。 ‌探头放置‌: 霍尔探头需紧贴磁体表面,方向垂直于磁力线,确保芯片面朝向被测磁场。 测量多点时需重复定位,记录不同位置数据以提高准确性。 3、 ‌注意事项 ‌ ‌避免探头损坏‌:轻压接触即可,过度弯折或用力按压会损坏霍尔芯片。 ‌数据记录‌:建议多次测量取平均值,尤其是非均匀磁场(如磁铁边缘)。 ‌单位转换‌:部分仪器支持高斯/特斯拉切换,需确认单位符合需求 三、常见误区与解决方案 ‌ ‌问题‌ ‌ ‌ ‌原因‌ ‌ ‌解决方案‌ 测量值不稳定 环境干扰或探头未垂直磁场 屏蔽干扰源,调整探头方向 读数超量程 档位选择过低 切换至高量程档位后重新测量 同一磁体不同位置差异大 磁场分布不均匀 多点测量并记录分布规律 选择高斯计时需综合量程、精度、探头适配性及功能需求,使用过程中需规范操作(如校准、探头定位)以确保数据准确。对于非均匀磁场测量,需结合多点数据与统计分析以提高可靠性。
  • 热度 4
    2024-10-25 10:46
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    探针台将晶圆或芯片固定在安装在平台上的卡盘上,该平台允许将DUT定位在显微镜视野的中心。 机械手放置在平台的平面上,并在机械手中插入探针臂和jian端。探头jian端必须适合要执行的测试程序。然后,用户通过调整相应的操纵器将探针jian端精确定位在设备内的正确位置。然后通过降低压板使探针与晶片接触;现在可以测试该设备。对于具有多个器件的晶圆,在测试第一个器件后,可以升起压板并将支撑晶圆的平台移动到下一个器件。重复定位探针jian端的过程,直到测试完所有必需的设备。这个过程都可以由操作员手动完成,但如果载物台和机械手是电动的,并且显微镜连接到计算机视觉系统,那么这个过程可以变成半自动或全自动。这可以提高探针台的生产力和吞吐量,并减少运行多个测试所需的劳动力。
  • 热度 18
    2011-10-27 09:54
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    Andrew Armutat 产品市场部 吉时利仪器公司   2601 型单通道系统源表            2602 型双通道系统源表   作为SMU的程序存储器和测试序列发生器如何加速测试进程的例子,吉时利仪器公司研究了对一个单通道SMU进行编程,内部执行一个典型源-测量序列的情形。然后将该测试序列与通过PC的GPIB总线控制的同样功能的测试进行比较。 测试序列由对 二极管 的三个简单测试组成:Vf,Vbr和Ir。首先,用Visual Basic写好PC 测试程序,通过GPIB总线控制SMU,执行这三项测试,并在VB程序中作出测试/失效判断;并将所有的SMU读数都通过GPIB总线返回到PC中。这种提供PC控制的系统完成二极管测试并作出通过/失效判断的时间约为250ms。 接下来,采用SMU内置测试序列的功能进行测试。 PC 程序 将预先配置仪器一次,然后进行源-测量测试过程,作出通过/失效判断,控制元器件分选处理器,所有这些操作都将有SMU在其内部进行,独立于PC和 GPIB总线 。这种方法可在约25ms的时间内完成测试,也就是说,它比前面的方法要快10倍。元器件分选处理器处理一个器件大约180ms,因此,使用SMU测试序列发生器可获得52%的产量增长率。在元器件的生产应用中,这将有效地降低一半的测试成本。 在上面描述的单通道系统中,使用测试序列发生器是一种直接有效的解决方法。如果对两个或更多通道的系统,配置测试序列发生器和管理多个触发器将变得极其复杂。但是,带有测试脚本处理器和高速控制总线的新型SMU可解决此问题,具有方便快捷地调整系统容量、具有可伸缩性和简单的编程特性。这些特性具有共享所有SMU的资源运行复杂、高速测试序列的能力。 (见本文其它部分有关吉时利2601型和2602型系统源表的说明) 登录吉时利官方微博( http://weibo.com/keithley )与专家进行互动,还可以免费索取WB/263: 免费索取《数据采集、测量与控制手册》哦~( http://www.keithley.cn/LLM/land/llm/ ) 2601型单通道系统源表http://www.keithley.com.cn/products/localizedproducts/currentvoltage/2601 2602  http://www.keithley.com.cn/products/localizedproducts/currentvoltage/2602 854X通信激光二极管配架http://www.keithley.com.cn/products/localizedproducts/opto/85428544 PC程序http://www.keithley.com.cn/products/localizedproducts/currentvoltage/4500mts GPIB总线http://www.keithley.com.cn/products/dcac/specialtysystems/optoelectronics/?mn=SYSTEM25
  • 热度 16
    2011-10-26 10:51
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    Andrew Armutat 产品市场部 吉时利仪器公司   SMU 测试序列的优势 单独的源和测量功能的仪器与SMU的区别在于,SMU通过改变系统程序设计的方法实现系统测试吞吐量显著的增长。使用SMU的测试序列发生器和程序存储器控制测试,不通过PC进行控制,可简化和加速测试程序的执行,这就是SMU的优势。包括:        四象限操作 (可作为激励源或负载,且带有正或负电压或电流)     内建电压和电流扫描能力     宽动态电压和电流范围     快速 瞬时响应 (失调下冲较小)     皮安级灵敏度     6 1/2位精细分辨率。      深度存储器 (一般可存到100个测试序列)     内置快速通过/失效判别比较器。     数字输入/输出接口,连接元器件分选处理机,可用于元器件分级。 上述这些特性都集于一个单独的机箱内,无需测试系统设计人员去集成这些。这些特性使得SMU的测试序列发生器具有非常强大的功能,可允许系统设计人员用一台这样的仪器处理更多的事件。 登录吉时利官方微博( http://weibo.com/keithley )与专家进行互动,还可以免费索取WB/263: 免费索取《数据采集、测量与控制手册》哦~( http://www.keithley.cn/LLM/land/llm/ ) 2602  http://www.keithley.com.cn/products/localizedproducts/currentvoltage/2602 四象限操作http://www.keithley.com.cn/events/proddemos/2400demo/2400_DC3a_CN.html 瞬时响应http://www.keithley.com.cn/llm/a/15.html 基础电子实验室http://www.keithley.com.cn/re/cel
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