标签: 测试功耗

IP核集成化的SoC测试，测试时间与测试功耗是两个相互影响的因素。多目标进化算法能够处理相互制约的多目标优化问题。在无约束条件下，对IP核的测试时间与测试功耗建立联合优化模型，并采用多目标进化算法中的改进型非劣分类遗传算法（Non-dominatedSortingGeneticAlgorithmII，NSGA-II）对模型进行求解。通过应用ITC’02标准电路中的h953做应用验证，结果表明该方法能够给出模型的均衡解，证明了模型的实用性和有效性。