标签: 高速io

高速IO接口的ESD保护APN001ESDProtectionforHighSpeedI/ODataLinesAbstractThesedays,ourmodernsocietyhasrapidlycometofullydependonelectronics.Andmoderncomputersarebasedincreasinglyonlowpowerlogicchips,allwithESDsensitivityduetoMOSdielectricbreakdownsandbipolarreversejunctioncurrentlimits.TheICsthatcontrolI/Oports(USB,Ethernet,etc.)arenotanexceptionsincethemajorityofthemaredesignedandmanufacturedbasedonCMOSprocesseswhichmakethemextremelysensitivetodamagefromESDconditions.BecausethemajorityofI/Oportsarehotinsertionandremovalsystems,theyareextremelyvulnerabletoreceiveESDconditionspossiblygeneratedbytheusersor……

本文档讨论使用Altera28-nmStratix®V器件的管芯仪表功能(ODI)来验证和调试高速I/O。依据摩尔定律，I/O技术在速度和数据速率上每两到三年就会翻倍。随着I/O速度和数据速率的提高，出现了新的验证和测试难题。本白皮书阐述验证高速链路所面临的难题，以及Altera28-nmStratixVODI技术是怎样克服这些难题的，还将介绍ODI应用。采用StratixV管芯仪表克服高速I/O验证难题WP-01152-1.0白皮书本文档讨论使用Altera28-nmStratixV器件的管芯仪表功能(ODI)来验证和调试高速I/O。依据摩尔定律，I/O技术在速度和数据速率上每两到三年就会翻倍。随着I/O速度和数据速率的提高，出现了新的验证和测试难题。本白皮书阐述验证高速链路所面临的难题，以及Altera28-nmStratixVODI技术是怎样克服这些难题的，还将介绍ODI应用。引言单个芯片集成了越来越多的晶体管，每一芯片现在可以实现更多的功能，性能也越来越强。晶体管变得更小更快，逻辑门的速度也越来越快，开关速度不断提高……