标签: 集成电路测试

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【国外电子与通信教材系列】超大规模集成电路测试：数字存储器和混合信号系统

【国外电子与通信教材系列】《超大规模集成电路测试：数字存储器和混合信号系统》电子书内容简介《超大规模集成电路测试：数字存储器和混合信号系统》可作为高等学校计算机、微电子、电子工程、无线电及自动控制、信号处理专业的高年级学生与研究生的教材和参考书，也可供从事上述领域工作的科研人员参考，特别适合于从事VLSI电路设计和测试的工程技术人员。

IntegratedCircuitTestEngineeringIntegratedCircuitTestEngineeringIanA.GroutIntegratedCircuitTestEngineeringModernTechniquesWith149Figures123IanA.Grout,PhDDepartmentofElectronicandComputerEngineeringUniversityofLimerickLimerickIrelandBritishLibraryCataloguinginPublicationDataGrout,IanIntegratedcircuittestengineering:moderntechniques1.Integratedcircuits-VericationI.Title621.3’81548ISBN-10:1846280230LibraryofCongressControlNumber:2005929631ISBN-10:1-84628-023-0e-ISBN:1-84628-173-3Printedonacid-freepaperISBN-13:978-1-84628-023-8Springer-VerlagLondonLimited2006HSPICEistheregisteredtrademarkofSynopsys,Inc.,700EastMiddleeldRoad,MountainView,CA94043,U.S.A.http://www.synopsys.com/home.htmlMA……