首页
论坛
电子技术基础
模拟技术
可编程器件
嵌入式系统与MCU
工程师职场
最新帖子
问答
版主申请
每月抽奖
商城免费换礼
社区有奖活动
博客
下载
评测
视频
文库
芯语
资源
2024国际航空电子大会
2024国际 AIoT 生态发展大会
3D IC 设计和Chiplet资料下载
车载总线测试和解码方案
新能源汽车三电测试技术中心
在线研讨会
EE直播间
小测验
白皮书
行业及技术活动
杂志免费订阅
免费在线工具
厂商资源中心
论坛
博文
电子工程专辑
电子技术设计
国际电子商情
资料
白皮书
研讨会
芯语
文库
登录|注册
登录
面包板社区
> >
标签
> >
潜在缺陷
标签: 潜在缺陷
相关资源
CMOS集成电路潜在缺陷的最小电压检测
所需E币: 3
时间: 2020-1-4 12:43
大小: 146.99KB
上传者:
二不过三
有潜在问题的芯片在正常的条件下缺陷不会显现出来,但是在一定的条件下会产者间歇性失效,从而造成芯片早期失效的质量问题。最小电压是芯片正常运行所需电压值,合格芯片与不合格芯片的最小电压值是不一样的,因此利用最小电压检测检测出有潜在缺陷的芯片。……
更多...
首页
论坛
电子技术基础
模拟技术
可编程器件
嵌入式系统与MCU
工程师职场
最新帖子
问答
版主申请
每月抽奖
商城免费换礼
社区有奖活动
博客
下载
评测
视频
文库
芯语
资源
2024国际航空电子大会
2024国际 AIoT 生态发展大会
3D IC 设计和Chiplet资料下载
车载总线测试和解码方案
新能源汽车三电测试技术中心
在线研讨会
EE直播间
小测验
白皮书
行业及技术活动
杂志免费订阅
免费在线工具
厂商资源中心
帖子
博文
返回顶部
×