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CMOS集成电路潜在缺陷的最小电压检测
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类别: 制造与封装
时间:2020-01-04
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资料介绍
有潜在问题的芯片在正常的条件下缺陷不会显现出来,但是在一定的条件下会产 者间歇性失效,从而造成芯片早期失效的质量问题。最小电压是芯片正常运行所 需 电压值,合格芯片与不合格芯片的最小电压值是不一样的,因此利用最小电压检 测 检测出有潜在缺陷的芯片。……
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