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AOS新產品(AOD448)比較報告[pic]■測試名稱:IPD60N03，IPD04N03，AOD436，AOD448，AOD452Thermaltest&WAREFORM.■測試日期:2005/01/18■測試地點:宇詮科技電力電子實驗室■測試目的:本實驗為使用同一組PWMIC.在實驗中更換HighSide及Lowside的MOSFET以找出最佳的組合,■測試條件:MOTHERBOARD：FICP4LGA-775MOTHERBOARD;此主機板為上一下二的組態，共4相；以下實驗為僅更換其中一相。PWM：Controler:ISL6556BC.Driver:INTERSILHIP6602X2.(一組PWM控制二相)。■測試項目:1.06N03(HS)+04N03(LS)2.AOSAOD436(HS)+AOD436(LS).3.AOSAOD452(HS)+AOD448(LS).4.AOSAOD452(HS)+AOD436(LS).■規格比較表：●MOSFET|Brand|Partnumber|Package|Description|LOAD|HS|L……

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