AOS新產品(AOD448)比較報告 [pic] ■ 測試名稱: IPD60N03，IPD04N03 ，AOD436，AOD448，AOD452 Thermal test & WAREFORM. ■ 測試日期: 2005/01/18 ■ 測試地點:宇詮科技電力電子實驗室 ■ 測試目的: 本實驗為使用同一組PWM IC.在實驗中更換High Side 及 Low side 的MOSFET以找出最佳的組合, ■ 測試條件: MOTHERBOARD：FIC P4 LGA-775 MOTHERBOARD; 此主機板為上一下二的組態，共4相；以下實驗 為僅更換其中一相。 PWM：Controler: ISL6556BC. Driver: INTERSIL HIP6602 X 2. (一組PWM控制二相)。 ■ 測試項目: 1. 06N03 (HS) + 04N03 (LS) 2. AOS AOD436 (HS) + AOD436 (LS). 3. AOS AOD452 (HS) + AOD448 (LS). 4. AOS AOD452 (HS) + AOD436 (LS). ■ 規格比較表： ● MOSFET |Brand |Part number |Package |Description | LOAD |HS |L……