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放大器失真……

电阻器失效分析片式厚膜电阻器―电极断裂开路1)样品名称：片式厚膜电阻器2)背景：型号为5.6KΩ/1206和47KΩ/1206，在使用一年后发现失效。3)失效模式：阻值超差和开路。4)失效机理：面电极的银层断裂是样品开路和阻值增大的原因。5)分析结论：电极的银层断裂是由于焊接时，在Pb-Sn焊料边缘的面电极Ag大量熔于焊料中，形成边缘的Ag层空洞，在长期工作过程Ag的迁移和腐蚀造成空洞的扩大甚至断开而导致电子开路。6)分析说明：失效品外观显示，端电极焊接不良（图1）。X-RAY观察分析，在端电极和面电极相连的区域发现面电极有断裂空洞（图2），在与端电极焊料边缘相连的面电极Ag层部分，都有不连续的现象，形成一条把银层断开的空洞；同时，样品研磨切面也可见到银层空隙，开封都能观察到面电极银层不连续带状空隙（图3），因此，面电极在焊料边缘的空隙造成银层不连续是造成样品电阻增大和开路的真正原因。面电极在焊料边缘出现不连续或空洞的原因是在焊接过程中，靠近端电极的面电极中的Ag在焊接过程中大量损耗掉，“熔化”在焊料之中，形成边缘面电极局部区域的Ag层空洞。在长时间的使用过程中，由于Ag迁移或者被腐蚀，空洞的扩大导致银层开路。端电极面电极陶瓷基片面电极断裂厚膜浆料图1样品的典型外貌图2面电极有断裂空洞端电极面电极断裂处图3面电解银层不连续带状空隙氧化膜电阻器―电解腐蚀开路1)样品名称：氧化膜电阻器2)背景：标称值为22KΩ±5%/2W，使用过程中出现开路。3)失效模式：电阻开路。4)失效机理：在水汽和直流电场作用下，镍铬膜被电解腐蚀开路。5)分析结论：电阻器镍铬膜在水汽和直流电场作用下，发生电解腐蚀开路，包封料中有少量的K……

电阻器失效分析案例片式厚膜电阻器―电极断裂开路1)样品名称：片式厚膜电阻器2)背景：型号为5.6KΩ/1206和47KΩ/1206，在使用一年后发现失效。3)失效模式：阻值超差和开路。4)失效机理：面电极的银层断裂是样品开路和阻值增大的原因。5)分析结论：电极的银层断裂是由于焊接时，在Pb-Sn焊料边缘的面电极Ag大量熔于焊料中，形成边缘的Ag层空洞，在长期工作过程Ag的迁移和腐蚀造成空洞的扩大甚至断开而导致电子开路。6)分析说明：失效品外观显示，端电极焊接不良（图1）。X-RAY观察分析，在端电极和面电极相连的区域发现面电极有断裂空洞（图2），在与端电极焊料边缘相连的面电极Ag层部分，都有不连续的现象，形成一条把银层断开的空洞；同时，样品研磨切面也可见到银层空隙，开封都能观察到面电极银层不连续带状空隙（图3），因此，面电极在焊料边缘的空隙造成银层不连续是造成样品电阻增大和开路的真正原因。面电极在焊料边缘出现不连续或空洞的原因是在焊接过程中，靠近端电极的面电极中的Ag在焊接过程中大量损耗掉，“熔化”在焊料之中，形成边缘面电极局部区域的Ag层空洞。在长时间的使用过程中，由于Ag迁移或者被腐蚀，空洞的扩大导致银层开路。端电极面电极陶瓷基片面电极断裂厚膜浆料图1样品的典型外貌图2面电极有断裂空洞端电极面电极断裂处图3面电解银层不连续带状空隙氧化膜电阻器―电解腐蚀开路1)样品名称：氧化膜电阻器2)背景：标称值为22KΩ±5%/2W，使用过程中出现开路。3)失效模式：电阻开路。4)失效机理：在水汽和直流电场作用下，镍铬膜被电解腐蚀开路。5)分析结论：电阻器镍铬膜在水汽和直流电场作用下，发生电解腐蚀开路，包封料中有少量的K……