电阻器失效分析片式厚膜电阻器―电极断裂开路 1) 样品名称：片式厚膜电阻器 2) 背景：型号为 5.6KΩ/1206 和 47KΩ/1206，在使用一年后发现失效。 3) 失效模式：阻值超差和开路。 4) 失效机理：面电极的银层断裂是样品开路和阻值增大的原因。 5) 分析结论：电极的银层断裂是由于焊接时，在 Pb-Sn 焊料边缘的面电极 Ag 大量熔于焊 料中，形成边缘的 Ag 层空洞，在长期工作过程 Ag 的迁移和腐蚀造成空洞的扩大甚至断 开而导致电子开路。 6) 分析说明： 失效品外观显示，端电极焊接不良（图 1） 。 X-RAY 观察分析，在端电极和面电极相连的区域发现面电极有断裂空洞（图 2） ，在 与端电极焊料边缘相连的面电极 Ag 层部分， 都有不连续的现象， 形成一条把银层断开的 空洞；同时，样品研磨切面也可见到银层空隙，开封都能观察到面电极银层不连续带状 空隙（图 3） ，因此，面电极在焊料边缘的空隙造成银层不连续是造成样品电阻增大和开 路的真正原因。 面电极在焊料边缘出现不连续或空洞的原因是在焊接过程中，靠近端电极的面电极 中的 Ag 在焊接过程中大量损耗掉， “熔化”在焊料之中，形成边缘面电极局部区域的 Ag 层空洞。在长时间的使用过程中，由于 Ag 迁移或者被腐蚀，空洞的扩大导致银层开路。 端电极 面电极 陶瓷 基片 面电极 断裂 厚膜浆料 图1 样品的典型外貌 图 2 面电极有断裂空洞 端电极 面电极 断裂处 图3 面电解银层不连续带状空隙 氧化膜电阻器―电解腐蚀开路 1) 样品名称：氧化膜电阻器 2) 背景：标称值为 22KΩ±5%/2W，使用过程中出现开路。 3) 失效模式：电阻开路。 4) 失效机理：在水汽和直流电场作用下，镍铬膜被电解腐蚀开路。 5) 分析结论：电阻器镍铬膜在水汽和直流电场作用下，发生电解腐蚀开路，包封料中有少 量的 K……