原理:写入方式
通常所说的JTAG大致分两类:一类用于测试芯片的电气特性,检测芯片是否有问题;另一类便是用于Debug;一般支持JTAG的主控芯片内部都包含了这两个模块。直白的说,一个具有JTAG Debug接口模块的控制芯片,只要时钟正常,就可以通过JTAG的接口访问芯片内部寄存器与连接于该主控芯片上的设备,比如迅盘模块上连接于Diamond Lake ASIC的NAND闪存。其原理是:在PCB电路设计好后,即可用程序先通过JTAG进行指令控制,通过TDI送入JTAG控制器的指令寄存器中,再通过TDI将要写入闪存芯片的地址、数据及控制线信号载入BSR中,并将数据锁存到BSC中,最后用EXTEST指令通过BSC将数据写入闪存。 如图:
针脚定义
标准的JTAG接口是4线:TMS、TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。JTAG的接口是一种非常特殊的4线接口,在电路版上的芯片可以将它们的JTAG接脚通过菊花链的方式连在一起,然后,只需连接到一个“JTAG端口”就可以访问一块电路板上的所有芯片,节省了针脚所占用的空间,由于所有芯片都用一个针脚传输,所以加快了传输的速度。
早期的JTAG是用来对芯片进行测试的,基本原理是在器件内部定义一个TAP(Test Access Port,测试访问口)通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。刚才我们也提到过,JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起,形成一个JTAG链,能实现对各个器件分别测试。然而现在,JTAG接口大多被用于实现ISP(In-System rogrammable,在线编程),对Flash等器件进行编程。
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