作者: 时间:2009-05-24 来源: | |
引言 传统的电路设计与测试领域,因为不同的工具和缺少一个便于传输设计和测试数据的通用接口,而继续被分割。设计的初始分析和系统原型性能验证之间的这一分割,长时间以来导致了错误和多次重复构造设计原型。 将仿真作为设计流程的一个环节,我们可以动态评估电路的性能并尽早发现错误。利用改进后的验证,以及原型系统性能的基准评估,可以更为恰当地评判该设计的整体成功与否。 NI Multisim与NI LabVIEW,作为集成化平台的一部分,在传输仿真和实测数据的能力方面具有独特之处。通过这样的集成,测试环境(LabVIEW)不仅能够采集原型测量数据,还能够采集仿真的输出结果。这两组数据通过一个接口,可以方便地进行比较和相关处理。利用一组扩展的分析函数,LabVIEW可以进一步分析该原型系统与期望结果(仿真结果) |
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