原创 “电子元器件失效分析技术与案例”高级研修班

关于举办“电子元器件失效分析技术与案例”高级研修班的邀请函<?xml:namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" />

各有关单位：

为了满足广大元器件生产企业对产品质量及可靠性方面的要求，中国电子电器可靠性工程协决定在全国组织召开“电子元器件失效分析与案例”高级研修班。研修班将由具有工程实践和教学丰富经验的教师主讲，通过讲解大量实例,帮助学员了解各种主要电子元器件的失效机理、失效分析方法和纠正措施。具体事宜通知如下：

一、主办单位：中国电子电器可靠性工程协会；

二、承办单位：北京怀远文化传播中心；

三、培训时间、地点:

2天，成都   第九期  2007年10月27-28日，<?xml:namespace prefix = st1 ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:smarttags" />10月26日报到；

四、培训费用：1980元/人（两天，含培训费、证书费、午餐费）。请在开班前传真报名或邮寄回执表。我们将在开班前2天内寄发《报到通知书》，告知详细地点及行车路线。

五、培训证书：中国电子电器可靠性工程协会培训证书；

六、课程对象：系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、研究员，质量可靠性管理和失效分析工程师；

七、课程提纲：

八、师资介绍：

费庆宇  男，信息产业部电子五所高级工程师,理学硕士,“电子产品可靠性与环境试验”杂志编委，长期从事电子元器件的失效机理、失效分析技术和可靠性技术研究。分别于1989年、1992－1993年、2001年由联合国、原国家教委和中国国家留学基金管理委员会资助赴联邦德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。他领导的“VLSI失效分析技术”课题组荣获2003年度“国防科技二等奖”。他领导的“VLSI失效分析与可靠性评价技术”课题组荣获2006年度“国防科技二等奖”。2001年起多次应邀外出讲学,获得广大学员的一致好评。

九、联系方式：

电  话：010-67699312  67642668

传  真：010-67642668  67699312

E-MAIL：hywh86@126.com

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中国电子电器可靠性工程协会

2007年5月28日