原创第九篇性能参数测量工艺

 2008-5-31 21:55  1458 6 6 分类: 模拟

第九篇性能参数测量工艺

目的
测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、绝缘电阻、并电容、串并间隔等，看是否符合技术要求。
适用范围
适用于所有石英晶体元件的测量
材料、零部件
1细纱手套
2待测石英晶体元件
设备及工装
1频率计(1×10-7)
2阻抗计（f：±5×10-6，R1：±10％）
3绝缘电阻测试仪(±20％)
4精密电容测试仪（±0.1％±0.003PF）
5恒温箱(±0.1℃)
6温度计(-50-+50℃,0-100℃)
7镊子(中号)
8各种电容夹具
9晶体插板
准备工作
1将所需电子仪器接通电源,预热30分钟以上.
2查看技术条件,了解测试内容.
操作过程
一、绝缘电阻测试
1调整好绝缘电阻测试仪(电压100V±15V).
2用仪器表笔碰被测石英晶体元件的外壳与引线间(晶片电极引线),测量其之间的绝缘电阻.
3测得的绝缘电阻应符合产品标准,否则判为不合格.
二、并电容测试
1调整好精密电容测试仪
2用仪表笔测量被测石英晶体元件的并电容,测得的电容值应符合产品标准,否则判为不合格
三、谐振频率及谐振电阻的测试
基准温度条件下,石英晶体元件的谐振频率及谐振电阻的测试.
1将被测石英晶体元件放在基准温度(该产品标准所规定的温度)下至少放置1小时.
2调整好频率计阻抗计.
3在阻抗计上测试被测石英晶体元件的谐振频率,其值与标称频率之差应符合产品标准,否则为不合格.
4测石英晶体元件的谐振电阻,则在阻抗计上将石英晶体元件的谐振电阻与标准电阻相比较.
比较方法：
A高频石英晶体元件:
首先将与产品标准相符合的标准电阻插在阻抗计上,看其栅流幅度.
再将石英晶体元件插在阻抗计上看其栅流幅度(当石英晶体元件要求谐振电阻时
石英晶体元件直接插在阻抗计上,当石英晶体元件要求是负载谐振电阻时,则石英晶体元件插在电容夹具上,然后插在阻抗计上.)
如插石英晶体元件的阻抗计栅流大于插标准电阻时的阻抗计栅流,则判为合格,否则判为不合格.
B低、中频石英晶体元件
在阻抗计上用电位器测出负载谐振电阻（谐振电阻）值，然后插入晶体插孔，记下此时电压表指针位置。
实测石英晶体元件，若谐振时电压表指针位置超过4中位置时，则此晶体元件的阻值为合格，否则为不合格。
低温条件下石英晶体元件的谐振频率及谐振电阻的测试
1将石英晶体元件放在低温恒温箱内按产品标准工作温度的下限恒温半小时以上。
2重复上述相同工步。
3注：要求总频差时，用低温时实测频率与标准频率相减，要求温度频差时，用低温时实测频率与基准温度时实测频率相减，以下高温测试也如此。
4将被测石英晶体元件放在高温恒温箱内按产品标准工作温度的上限恒温半小时以上。
5重复上述相同工步。
四、串并间隔的测试（在常温条件下测试）
1调整好频率计，阻抗计。
2按产品标准在阻抗上分别测出被测石英晶体元件在两种（或多种）负载电容情况下的频率。
3计算出的频率差值，其值应符合产品标准，否则判为不合格。
注意事项
测试时频率计数：高频石英晶体元件以第三次显示的数字为准，中、低频石英晶体元件以第二次显示的数字为准。

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